“同位素地質(zhì)學(xué)專(zhuān)用TOF-SIMS科學(xué)儀器”項(xiàng)目啟動(dòng)

近日，“同位素地質(zhì)學(xué)專(zhuān)用TOF-SIMS科學(xué)儀器” 項(xiàng)目啟動(dòng)會(huì)召開(kāi)。該項(xiàng)目被列為科技部國(guó)家重大科學(xué)儀器設(shè)備開(kāi)發(fā)專(zhuān)項(xiàng)，由中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院地質(zhì)研究所牽頭，眾多研究機(jī)構(gòu)和單位參與。

該項(xiàng)目研究主要是以飛行時(shí)間質(zhì)譜(TOF)作為質(zhì)量分析器，在幾十微秒之內(nèi)完成全質(zhì)量譜分析，提升離子通過(guò)率。預(yù)計(jì)該TOF同位素測(cè)量精度0.5‰，分辨率20000，飛秒激光為電離源，靈敏度高。該項(xiàng)目研發(fā)將大大推動(dòng)我國(guó)地球化學(xué)和宇宙化學(xué)的發(fā)展，研制的相關(guān)儀器將用于月球和隕石樣品的氧同位素和稀土元素分析，以及對(duì)一些礦床驚喜分析。

據(jù)悉，大連化物所作為第二承擔(dān)單位，負(fù)責(zé)二次離子質(zhì)譜（SIMS）核心部件TOF質(zhì)量分析器的研制。該所兩位研究員承擔(dān)了“精度及高分辨飛行時(shí)間質(zhì)譜分析器”和 “二次中性粒子后電離技術(shù)”兩個(gè)子課題。

SIMS可進(jìn)行微區(qū)成分成像和深度剖面分析，提供眾多微觀結(jié)構(gòu)、組成分析信息，被廣泛應(yīng)用于解決納米材料、儲(chǔ)氫材料、航天材料、催化材料等研究難題，同時(shí)也被應(yīng)用于地質(zhì)科學(xué)，核技術(shù)、材料科學(xué)、生命科學(xué)、文物考古等領(lǐng)域。