近日，“2012年度北京市電子顯微學年會”成功召開，共有200多位專家與會，共同就北京電子顯微學的學術及技術水平，以及在材料科學、生命科學等領域的應用、發(fā)展和交流等進行交流探討。
此次會議由北京市電鏡學會、北京理化分析測試技術學會主辦，會議探討內(nèi)容涉及掃描電鏡、透射電鏡、能譜儀等儀器技術的進展與應用。
隨著生命科學的發(fā)展，基于掃描電鏡技術的自動化數(shù)據(jù)采集三維重構(gòu)技術應用也越來越廣泛。會議中對ATLUM+SEM、Diamond-knife/SBFSEM、FIB/SBFSEM這三種技術進行了探討，其掃描電鏡背散射電子成像、自動化程度高等特點得到了認同。
會上還對掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)的原理和應用情況進行了介紹，作為一種推動納米科技發(fā)展的重要工具，掃描隧道顯微鏡近年來也取得了諸多發(fā)展，并能夠獲得納米級分辨率的表面結(jié)構(gòu)信息。
鍍膜是重要的電鏡樣品制備技術，通過鍍膜可以降低電子束對樣品的損傷，獲得更淺表層的信息，提高SE和BSE對樣品的損傷。新型的鍍膜儀能夠很好的控制真空度、靶材、膜厚度等因素，將鍍膜效果發(fā)揮到最大。
能譜儀能在不影響掃描電鏡分辨率的前提下，用于材料表面微區(qū)區(qū)域(幾個微米)的成分分析，精確度高，分析速度快，操作簡單。在用戶在選購掃描電鏡時必不可少的功能附件。透視微焦斷層掃描是一種非破壞性的試驗技術，通過X射線穿透樣本，對樣本進行不同角度成像，由軟件將各個角度的圖像進行重構(gòu)，還原成微米甚至納米級精度的、可分析的3D圖像，從而實現(xiàn)對樣本內(nèi)部微結(jié)構(gòu)的分析。
此外會上還對電鏡技術在服裝研究中應用現(xiàn)狀及其展望、超高分辨掃描電鏡的最新進展、離子減薄技術與設備發(fā)展狀況、國產(chǎn)掃描電鏡的研究現(xiàn)狀與未來發(fā)展思路等進行了深入的探討。
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