基于NI TestStand 和LabVIEW 開(kāi)發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)
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當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來(lái)越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加,所以測(cè)試這些設(shè)備的成本也在不斷提高。因?yàn)闇y(cè)試對(duì)于產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要,而更加復(fù)雜的電子設(shè)備需要更新式、更先進(jìn)的測(cè)試儀器,所以產(chǎn)品的測(cè)試成本過(guò)高,無(wú)法與其較低的制造成本保持一致。
當(dāng)今,測(cè)試工程師身處在這樣一個(gè)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)環(huán)境之中:
· 產(chǎn)品設(shè)計(jì)比前幾代更加復(fù)· 雜
· 為保持競(jìng)爭(zhēng)力并滿(mǎn)足市場(chǎng)需求,· 開(kāi)發(fā)周期不· 斷縮短
· 預(yù)算不· 斷縮減,· 但產(chǎn)品測(cè)試卻越來(lái)越昂貴
模塊化測(cè)試框架:軟件定義的測(cè)試方法
為了滿(mǎn)足縮短開(kāi)發(fā)周期、實(shí)現(xiàn)較大范圍的產(chǎn)品組合、減少預(yù)算以及完成更復(fù)雜產(chǎn)品的挑戰(zhàn),測(cè)試工程師們不得不放棄專(zhuān)一的、針對(duì)特定應(yīng)用的交鑰匙測(cè)試系 統(tǒng)。這些系統(tǒng)缺少靈活性,難以適應(yīng)和添加新功能來(lái)更新測(cè)試更新、更復(fù)雜的產(chǎn)品,因此,傳統(tǒng)解決方案,例如靜態(tài)機(jī)架式儀器或?qū)S玫?ldquo;big iron”ATE系統(tǒng)都無(wú)法有效地滿(mǎn)足當(dāng)今的市場(chǎng)需求。
為滿(mǎn)足這些需求,測(cè)試經(jīng)理和工程師們轉(zhuǎn)向了基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的模塊化、軟件定義的測(cè)試架構(gòu),它可以提供:
· 增加測(cè)試系統(tǒng)的靈活性,· 能夠添加新的功能并適應(yīng)它們所需要的新技術(shù)
· 可擴(kuò)展性,· 根據(jù)需要增加新的功能(和儀器)
· 通過(guò)減少前期投資成本及維護(hù)成本來(lái)降低測(cè)試系統(tǒng)成本,同· 時(shí)增加設(shè)備· 和代碼的重用率
· 通過(guò)硬件抽象層降低硬件折舊的風(fēng)險(xiǎn)
設(shè)計(jì)高效的模塊化測(cè)試系統(tǒng)需要的架構(gòu)是能夠分離出測(cè)試系統(tǒng)(圖1)的不同組成部分--主要是將測(cè)試代碼和儀器之間以及測(cè)試代碼和總體測(cè)試管理架構(gòu)之 間解耦。這種將測(cè)試系統(tǒng)模塊化地解耦為不同的組成部分,以及通過(guò)軟件定義儀器功能的能力是更快更經(jīng)濟(jì)地開(kāi)發(fā)靈活測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵因素。
圖1. 測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)
測(cè)試管理軟件:NI TestStand
一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)需要執(zhí)行諸多任務(wù)和測(cè)量操作步驟,其中有些操作是針對(duì)特定的被測(cè)設(shè)備(Device under test, DUT),而其它的則是適用于各種被測(cè)設(shè)備。傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)通常將兩種操作類(lèi)型整合到同一個(gè)單一的軟件層。在這種范式下,當(dāng)項(xiàng)目的要求發(fā)生變化時(shí),測(cè)試系 統(tǒng)的每個(gè)部分都需要更改,并且代碼的重用變得非常繁瑣。
一個(gè)模塊化的測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)需要明確劃分系統(tǒng)級(jí)任務(wù)與DUT級(jí)任務(wù)。系統(tǒng)級(jí)任務(wù)對(duì)于每一個(gè)設(shè)備(測(cè)試管理軟件)通常是相同的,而DUT級(jí)任務(wù)對(duì)于每個(gè) 測(cè)試設(shè)備(測(cè)試代碼)是不同的。如圖表1所示即為DUT級(jí)和系統(tǒng)級(jí)任務(wù)間的區(qū)別。這種劃分使得測(cè)試工程師們能夠快速地重用、維護(hù)和修改測(cè)試管理軟件的組 件,而不會(huì)影響實(shí)際的測(cè)試代碼,反之亦然。
表1. 測(cè)試管理軟件任務(wù)與測(cè)試開(kāi)發(fā)軟件任務(wù)
NI TestStand是 NI推出的一款功能強(qiáng)大、可立即執(zhí)行的測(cè)試管理軟件,用于開(kāi)發(fā)、部署及執(zhí)行測(cè)試系統(tǒng)軟件(如圖2所示)。其核心在于NI TestStand是一個(gè)測(cè)試執(zhí)行程序,允許測(cè)試人員按照序列調(diào)用測(cè)試代碼,而且該代碼可以由任何編程語(yǔ)言編寫(xiě)。此外,NI TestStand 還提供了現(xiàn)成可用的常見(jiàn)測(cè)試管理軟件功能,如下所列:
· 將結(jié)果記錄到任何OLEDB或ODBC數(shù)據(jù)庫(kù)
· 報(bào)告可以生成多種格式,· 包括HTML、文本、XML和ATML
· 管理不同· 訪問(wèn)級(jí)別的用戶(hù)
· 測(cè)試限制管理
· 簡(jiǎn)單和高級(jí)的操作界面
· 并行測(cè)試功能,· 允許在一個(gè)單一的DUT上同· 時(shí)測(cè)試多種產(chǎn)品或運(yùn)行多個(gè)測(cè)試
此外,NI TestStand本身具有非常模塊化的軟件架構(gòu),它允許工程師們使用這些組件,或完全自定義它們。想要了解NI TestStand架構(gòu)的更多信息,請(qǐng)參閱NI TestStand測(cè)試管理軟件架構(gòu)指南。
圖2. NI 測(cè)試管理軟件
有些公司已經(jīng)編寫(xiě)了自己的測(cè)試執(zhí)行程序,并花費(fèi)了相當(dāng)大的工程資源來(lái)重新開(kāi)發(fā)測(cè)試管理軟件。這種戰(zhàn)略往往導(dǎo)致生產(chǎn)力下降、長(zhǎng)時(shí)間軟件維護(hù)帶來(lái)的資源 緊缺。相反,如果使用市場(chǎng)上現(xiàn)成可用的測(cè)試管理軟件,如NI TestStand,將讓您減少設(shè)備常見(jiàn)功能的開(kāi)發(fā),使您專(zhuān)注于每個(gè)設(shè)備不同操作的測(cè)試代碼,從而最大限度地提高生產(chǎn)效率。
測(cè)試開(kāi)發(fā)語(yǔ)言: LabVIEW
NI Teststand可以調(diào)用幾乎所有語(yǔ)言所編寫(xiě)的程序,包括:LabVIEW、NI LabWindowsTM/CVI、C/C++、 .NET 甚至腳本語(yǔ)言。然而,大部分的通用編程語(yǔ)言并非針對(duì)測(cè)試測(cè)量應(yīng)用而優(yōu)化,因此很難寫(xiě)出具有與儀器通信、分析數(shù)據(jù)以及按照有意義的方式展示數(shù)據(jù)等功能的程序代碼。
LabVIEW是一種直觀的圖形化編程語(yǔ)言,幫助程序員或者非程序員開(kāi)很快地開(kāi)發(fā)強(qiáng)大的測(cè)試應(yīng)用軟件。圖3所示為一個(gè)簡(jiǎn)單的LabVIEW VI(虛擬儀器或程序)的范例,它可以用來(lái)從一個(gè)儀器采集信號(hào),對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,然后將結(jié)果生成報(bào)表給用戶(hù)。
圖3. LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言,專(zhuān)為測(cè)試測(cè)量應(yīng)用而優(yōu)化
除了通過(guò)減少測(cè)試應(yīng)用開(kāi)發(fā)時(shí)間以外,LabVIEW還能夠通過(guò)以下措施提高測(cè)試開(kāi)發(fā)人員的效率:
· 通過(guò)免費(fèi)的儀器驅(qū)動(dòng)程序與儀器通信,· 從而· 可以控制任意儀器
· 通過(guò)數(shù)千個(gè)內(nèi)置的函數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,· 并展示數(shù)據(jù)
· 專(zhuān)門(mén)針對(duì)測(cè)試測(cè)量應(yīng)用而· 開(kāi)發(fā)的用戶(hù)界面控件,· 如:圖表、LED、按鈕以及儀表盤(pán)
· 可以自動(dòng)利用多核處理的優(yōu)勢(shì),· 提供更高的性能
欲了解更多信息,請(qǐng)閱讀自動(dòng)化測(cè)試與驗(yàn)證系統(tǒng)時(shí)選用NI LabVIEW的10大理由一文。
National Instruments 還提供基于文本編程語(yǔ)言開(kāi)發(fā)測(cè)試代碼的工具。LabWindows/CVI是一個(gè)ANSI C開(kāi)發(fā)環(huán)境,而NI Measurement Studio則Visual Studio的一個(gè)插件,為使用ANSI C, .NET 和 Visual C++編程語(yǔ)言提供測(cè)試測(cè)量界面控件和分析函數(shù)。
選擇一種針對(duì)測(cè)試測(cè)量而進(jìn)行了專(zhuān)門(mén)優(yōu)化的編程語(yǔ)言,可以減少你開(kāi)發(fā)測(cè)試代碼的時(shí)間,讓你更加專(zhuān)注于自己的特定應(yīng)用。 欲了解更多信息,請(qǐng)閱讀選擇正確的軟件應(yīng)用開(kāi)發(fā)環(huán)境白皮書(shū)。
總結(jié)
隨著設(shè)備復(fù)雜性的增加、開(kāi)發(fā)周期的縮短、預(yù)算減少等諸多挑戰(zhàn)的出現(xiàn),讓工程人員有機(jī)會(huì)重新審視他們現(xiàn)有的自動(dòng)測(cè)試策略,并尋找新的途徑,在提高效率 的同時(shí)減少成本。在設(shè)計(jì)下一個(gè)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)時(shí),使用新的策略,從而提高系統(tǒng)的靈活性和擴(kuò)展性,實(shí)現(xiàn)更高的性能、更低系統(tǒng)成本、更長(zhǎng)的生命周期。
模塊化的軟件定義自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)客服了以往的基于獨(dú)立儀器或者昂貴的專(zhuān)有ATE系統(tǒng)的方案中的缺點(diǎn)。通過(guò)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)中不同部分解耦,并通過(guò)軟件定義儀 器功能,工程師能夠使用這種模塊化的儀器提供具有更高的靈活性、擴(kuò)展性,并且成本更低的解決方案,以應(yīng)對(duì)當(dāng)前市場(chǎng)中的挑戰(zhàn)。使用NI TestS測(cè)試管理軟件和LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言構(gòu)建的模塊化測(cè)試軟件架構(gòu)被證證明能夠優(yōu)化測(cè)試系統(tǒng)并降低成本,其應(yīng)用領(lǐng)域中既有最新的智能手機(jī)、 3D電視,也有極其關(guān)鍵的下一代的國(guó)防系統(tǒng)和醫(yī)療設(shè)備。