IR推出堅(jiān)固耐用的600V IR25750 SOT-23電流檢測(cè)IC 提升整體系統(tǒng)效率并大幅節(jié)省空間

21ic訊 國(guó)際整流器公司 (International Rectifier，簡(jiǎn)稱IR) 推出堅(jiān)固耐用的IR25750通用電流檢測(cè)IC，配有極纖巧的SOT23-5L封裝，為大電流應(yīng)用提升整體系統(tǒng)效率并且大幅節(jié)省空間。

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測(cè)量通過功率MOSFET或IGBT的大電流 (10到100A) 往往需要大的電阻器，因此會(huì)產(chǎn)生過量的功率損耗 (10到30W)。IR25750可在開關(guān)導(dǎo)通時(shí)從功率MOSFET的內(nèi)部導(dǎo)通電阻或IGBT的VCE(on) 提取電壓，無(wú)需大型外部電流檢測(cè)電阻器和散熱片，還能避免過量的功率損耗。

IR25750的柵極驅(qū)動(dòng)輸入為IC提供VCC電源電壓，并把導(dǎo)通電阻或VCE(on) 檢測(cè)電路和MOSFET或IGBT的開關(guān)時(shí)間進(jìn)行同步。新器件采用IR的專利高壓技術(shù)，具有在開關(guān)關(guān)斷時(shí)阻斷高VDS或VCE電壓所需的600V阻斷能力。其它主要功能包括低柵極輸入電容、導(dǎo)通時(shí)的內(nèi)部濾波延遲 (一般為200納秒) 以及GATE和CS引腳上的內(nèi)部20.8V齊納箝位 (Zener clamp)。

IR亞太區(qū)銷售副總裁潘大偉表示：“IR25750電流檢測(cè)IC是新的模塊組合，通過功率MOSFET的導(dǎo)通電阻或IGBT的VCE(on) 測(cè)量電流，無(wú)需大型外部電流檢測(cè)電阻器。這些功能可大幅提升通用開關(guān)型電力電子產(chǎn)品、電機(jī)控制和工業(yè)設(shè)備等大電流應(yīng)用的效率，并大幅節(jié)省空間。”

IR25750在所有輸入和輸出上均具有集成式防靜電能力和卓越的閂鎖免疫力，實(shí)現(xiàn)無(wú)堅(jiān)不摧的單芯片保護(hù)。該器件符合工業(yè)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)和第一級(jí)潮濕敏感度 (MSL1) 標(biāo)準(zhǔn)。

規(guī)格

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產(chǎn)品現(xiàn)正接受批量訂單。新器件不含鉛，并符合電子產(chǎn)品有害物質(zhì)管制規(guī)定 (RoHS)。