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[導(dǎo)讀]多年以來(lái),從事電源管理業(yè)務(wù)的半導(dǎo)體制造商盡力跟上終端系統(tǒng)用戶的需求。越來(lái)越多的便攜式電子產(chǎn)品在功能上花樣翻新,這些產(chǎn)品需要峰值性能,要求設(shè)計(jì)者在設(shè)備的物理尺度內(nèi)實(shí)現(xiàn)盡可能高的效率。雖然電池行業(yè)努力開發(fā)

多年以來(lái),從事電源管理業(yè)務(wù)的半導(dǎo)體制造商盡力跟上終端系統(tǒng)用戶的需求。越來(lái)越多的便攜式電子產(chǎn)品在功能上花樣翻新,這些產(chǎn)品需要峰值性能,要求設(shè)計(jì)者在設(shè)備的物理尺度內(nèi)實(shí)現(xiàn)盡可能高的效率。雖然電池行業(yè)努力開發(fā)具有比傳統(tǒng)鎳鎘(NiCd)電池電量更高的替代電池技術(shù),但還遠(yuǎn)不能滿足新一代便攜設(shè)備對(duì)能量的需求。因此,便攜式應(yīng)用不得不尋求在低功耗電路設(shè)計(jì)上的創(chuàng)新開發(fā),使設(shè)計(jì)工程師可以讓終端系統(tǒng)以盡可能高的效率使用電池資源。在便攜式設(shè)備中,元器件是功耗預(yù)算的主要部分,而且很顯然,要跟上需求的變化,半導(dǎo)體器件制造商需要不斷創(chuàng)新,幫助降低便攜式產(chǎn)品的功耗。

  以手機(jī)為例,降低模擬和數(shù)字基帶芯片等手持設(shè)備中主要器件的工作電壓是降低功耗的辦法之一。在不需要DSP或微處理器發(fā)揮最大性能的時(shí)候,可以降低內(nèi)核供電電壓,并且降低時(shí)鐘頻率。越來(lái)越多的新一代低功耗應(yīng)用采用了此項(xiàng)技術(shù),以盡可能地節(jié)約系統(tǒng)能量。公式PC~(VC)2.F描述了一個(gè)DSP內(nèi)核的功耗,這里,PC是內(nèi)核的功耗,VC 是內(nèi)核電壓,F(xiàn)是內(nèi)核時(shí)鐘頻率。降低內(nèi)部時(shí)鐘頻率可以減少功耗,降低內(nèi)核供電電壓可以把功耗降得更多。

  先進(jìn)的硅片和封裝技術(shù)能起到什么作用

  有很多音箱新興高耗電便攜式設(shè)備性能的設(shè)計(jì)因素,本文將主要以在低電壓應(yīng)用中最常見(jiàn)的功率開關(guān)功率MOSFET為例,說(shuō)明最新的硅技術(shù)突破在增加電源需求上的影響。為說(shuō)明這些技術(shù)進(jìn)步的影響,有必要了解功率MOSFET的一些關(guān)鍵參數(shù)。

  通道的導(dǎo)通電阻(rDS(on))是由通道的橫向和縱向電場(chǎng)控制的。通道電阻主要由柵源電壓差決定的。當(dāng)VGS超過(guò)門限電壓(VGS(th)),F(xiàn)ET開始導(dǎo)通。許多操作要求開關(guān)接地點(diǎn)。功率MOSFET通道的電阻與由公式R= L/A確定的物理尺寸有關(guān),這里是電阻率,L是溝道長(zhǎng)度,A是W x T,即溝道的橫截面積。

  在通常的FET結(jié)構(gòu)中,L和W是由器件的幾何尺寸確定的,而溝道厚度T是兩個(gè)耗盡層之間的距離。耗盡層的位置會(huì)隨柵源偏置電壓或漏源電壓而變。耗盡層的位置會(huì)隨柵源偏置電壓或漏源電壓而變。當(dāng)T在VGS和VDS的影響下減小到零時(shí),兩個(gè)對(duì)邊的耗盡層就會(huì)連在一起,增加的溝道電阻(rDS(on))會(huì)接近無(wú)窮大。

  圖1是rDS(on)與VGS特性的關(guān)系曲線。區(qū)域1對(duì)應(yīng)的是累積電荷不足以產(chǎn)生反向的情況。區(qū)域2對(duì)應(yīng)的條件是有足夠的電荷,使P區(qū)的一部分反向并形成溝道,但這還不夠,因?yàn)?ldquo;空間電荷”效應(yīng)也是很重要的。區(qū)域3對(duì)應(yīng)的是電荷有限的情況,當(dāng)柵體電勢(shì)升高時(shí),rDS(on)沒(méi)有明顯變化。

圖 1: rDS(on) 與VGS 特性的關(guān)系曲線
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閾值電壓(VGS(th))是用來(lái)描述需要多大電壓來(lái)使溝道導(dǎo)通的參數(shù)。VGS控制著飽和電流ID的大小,VGS增加會(huì)使常量ID變小,因此需要更小的VDS來(lái)達(dá)到曲線的拐點(diǎn)(圖2所示)。

(圖中文字:在額定RDS(on)和1.5V電壓下,驅(qū)動(dòng)電路不需要電平轉(zhuǎn)換電路就能導(dǎo)通MOSFET)

圖2: 不同柵極電壓下rDS(on) 與 Id的關(guān)系曲線 (資料來(lái)源: Vishay Siliconix)

  可以通過(guò)采用低閾值電壓的晶體管來(lái)實(shí)現(xiàn)高速性能和低功耗工作。在信號(hào)路徑上使用低閾值功率MOSFET,可以降低供電電壓(VDD),從而在不影響性能的前提下減少開關(guān)功率耗散。這就是為什么,為滿足用戶在降低功耗、延長(zhǎng)電池壽命方面與日俱增的需求,許多用于便攜式電子系統(tǒng)的ASIC采用1.5V左右的內(nèi)核電壓進(jìn)行工作。然而直到現(xiàn)在,由于缺少能在這樣低的電壓下導(dǎo)通的功率MSOFET,設(shè)計(jì)者如果不使用電平轉(zhuǎn)換電路,就難以發(fā)揮低于1.8V的電壓在降低功耗上的好處,而使用電平轉(zhuǎn)換電路會(huì)使電路變得更復(fù)雜,同時(shí)也會(huì)增加功耗。Vishay Siliconix在業(yè)界率先推出了一系列突破性的功率MOSFET,能保證在1.5V電壓下導(dǎo)通,從而解決了這個(gè)難題。

(圖中文字:在額定RDS(on)和1.5V電壓下,驅(qū)動(dòng)電路不需要電平轉(zhuǎn)換電路就能導(dǎo)通MOSFET)

圖3,減小VGS(th)能夠讓驅(qū)動(dòng)器用更低的輸出電壓使開關(guān)導(dǎo)通,減少所需的電平轉(zhuǎn)換電路

  從以往的經(jīng)驗(yàn)來(lái)看,我們需要一個(gè)不低于1.8V的閾值電壓對(duì)所有功率MSOFE中閾值點(diǎn)的負(fù)溫度系數(shù)進(jìn)行補(bǔ)償。如果器件工作在125℃的溫度下(這在便攜式應(yīng)用是很可能出現(xiàn)的情況),現(xiàn)有的MOSFET設(shè)計(jì)不得不提高M(jìn)OSFET的閾值電壓,防止MOSFET發(fā)生自導(dǎo)通,因?yàn)榧幢闼┘拥腣GS為0V,低閾值電壓的MOSFET也可能發(fā)生自導(dǎo)通。

  尤其是便攜式設(shè)備和手機(jī)對(duì)多媒體功能的要求是永無(wú)止境的。設(shè)計(jì)者要盡力提供更強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力,同時(shí)盡量滿足下一代便攜式設(shè)備的特殊電源需求。不過(guò)毫無(wú)疑問(wèn)的一點(diǎn)是,采用先進(jìn)硅片工藝和封裝技術(shù)的功率MOSFET將能夠提供設(shè)計(jì)者所期望的電源效率、超小尺寸和低成本,把這些多媒體手機(jī)由設(shè)想變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。

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