簡(jiǎn)易元器件測(cè)試器

本測(cè)試器可用來(lái)測(cè)試晶體三極管、二極管、LED、(單雙向)可控硅、電容和開關(guān)的通斷特性，電路見圖1。

測(cè)晶體三極管時(shí)，將引腳分別插入C、B、E，并根據(jù)三極管類型置好NPN/PNP開關(guān)，按下S1，如晶體三極管良好，相應(yīng)的LED便會(huì)發(fā)光。

測(cè)二極管時(shí)，陽(yáng)極和陰極分別接在“+”和“-”端，開關(guān)置于NPN位置，LED1應(yīng)發(fā)光。

測(cè)LED時(shí)，將LED的陽(yáng)極和陰極分別插入B、E，開關(guān)置于NPN位置，按下S1，被測(cè)LED應(yīng)發(fā)光。

測(cè)單向可控硅時(shí)，將開關(guān)置于NPN位置，將引腳A、K、G分別連接C、E、B，按下S1放開后，LED1應(yīng)仍保留在發(fā)光狀態(tài)。

測(cè)雙向可控硅時(shí)，將開關(guān)置于NPN位置，將引腳T1、T2、G分別連接C、E、B，按下S1，LED1應(yīng)發(fā)光，松開后應(yīng)熄滅。

測(cè)電容時(shí)，將電容兩端在分別連接“+”和“-”端，來(lái)回掀動(dòng)NPN/PNP開關(guān)，LED1和LED2應(yīng)輪流發(fā)光，表示電容良好，但不能得出電容值。

測(cè)開關(guān)通斷時(shí)，NPN/PNP開關(guān)置于任意位置，將被測(cè)開關(guān)接入“+”和“

-”，如待測(cè)開關(guān)閉合且是好的，根據(jù)NPN/PNP開關(guān)位置的不同，LED1或LED2就發(fā)光，否則開關(guān)未閉合或開關(guān)已壞。