關于開環(huán)閉環(huán)D類放大器
PSRR:關于開環(huán)閉環(huán)D類放大器
過去,電源抑制比(PSRR)就已成為一種測量放大器抑制電源輸出噪聲性能的優(yōu)異測量方法。但是,由于出現(xiàn)了越來越多的D類放大器,以及其擁有的效率優(yōu)勢,僅僅依靠PSRR作為電源噪聲抑制性能的指示器已經(jīng)遠遠不夠了。相比開環(huán)閉環(huán)數(shù)字輸入I2S放大器的PSRR規(guī)范,這一情況愈加明顯。很多時候,PSRR規(guī)范是一樣的,但當監(jiān)聽低于理想電源的放大器時,很明顯會存在音頻性能差異。本文縱覽了傳統(tǒng)的PSRR測量方法,并解釋了其不能完全捕獲橋接式負載(BTL)結構中D類放大器電源抑制性能的原因,并介紹了一種測量D類放大器中電源噪聲影響大小的替代方法。
要想了解PSRR測量方法無法能夠充分地捕獲電源抑制性能的原因,我們需要回顧到AB類放大器統(tǒng)治消費類音頻電子設備的時代。同今天的情況一樣,AB類放大器一般配置在一個單端(SE)或BTL輸出結構中。實際上,SE AB類放大器擁有分裂軌電源(即±12V)是十分普遍的事,因為電源主要都基于變壓器,而且增加第二個軌的成本也不是特別高。BTL結構更多地用于那些沒有分裂軌電源的音頻系統(tǒng)中。不管是SE還是BTL結構,AB類放大器本身都擁有良好的PSRR,這是因為其基本架構以及通常大大低于電源軌電壓的輸出電平。
就AB類放大器而言,PSRR測量方法可以相對較好地顯示放大器抑制電源噪聲的性能,而就SE結構而言,就需要特別精確的放大器電源噪聲抑制性能(我們后面再展開詳細討論)。我們將時間向前推,便會發(fā)現(xiàn)D類放大器在當時的市場上風靡一時。它們以極高效率的運行改變了市場形態(tài),從而在工業(yè)設計中實現(xiàn)了相當大的創(chuàng)新,特別是在更小的尺寸方面。但是,相比AB類放大器,它們的架構都存在根本的不同,同時它們的輸出結構選擇幾乎只有BTL.
在BTL結構中,D類放大器具有兩個輸出級,其由4個FETS組成(也被稱作全橋接)。而SE D類放大器只有一個輸出級,由兩個FETS組成(也被稱作半橋接)。相比SE結構,BTL輸出結構擁有諸多優(yōu)勢,其中包括給定在電源軌情況下的4倍輸出功率,更好的低音響應,以及卓越的開/關咔嗒和噼噗聲性能。BTL架構存在的一些缺點是您需要兩倍數(shù)目的FET晶體管。這就意味著更大的硅芯片尺寸和更高的相關成本,并且重建濾波器(LC濾波器)成本也要翻倍。在今天的市場中,盡管SE和BTLD類放大器都可以看到,但大多數(shù)還是BTL.
在D類BTL結構中,傳統(tǒng)的PSRR測量方法就無能為力了。要想更好地了解其原因,就需要了解D類放大器的工作原理,以及PSRR是如何測量出來的。D類放大器為開關放大器,其輸出在極高的頻率下(通常為250kHz或者更高)進行軌至軌切換。音頻信號用于脈寬調制(PWM)該開關頻率(方波)。然后,重建濾波器(LC濾波器)用于從載波頻率提取音頻信號。這些開關架構均極為高效(在一些開關式電源中也采用相同結構),但是相比傳統(tǒng)的AB類放大器它們對電源噪聲更為敏感。仔細思考一下就不難發(fā)現(xiàn):放大器的輸出實質上就是電源軌(脈寬調制),因此所有電源噪聲都直接被傳遞給了放大器輸出。
電源抑制比(PSRR)是一種衡量放大器抑制電源噪聲(即紋波)性能好壞的度量標準。在選擇音頻放大器時它是一個重要的參數(shù),因為低PSRR的音頻放大器一般要求更高成本的電源和/或大去耦電容。在消費類電子產(chǎn)品市場上,電源成本、尺寸和重量都是重要的設計考慮因素,特別是在產(chǎn)品尺寸不斷縮小、價格迅速下跌以及便攜式設計日益普遍的情況下。
傳統(tǒng)的PSRR測量方法中,放大器的電源電壓由一個DC電壓和一個AC紋波信號(Vripple)組成。音頻輸入為AC接地,因此在測量時沒有音頻信號。所有電源電壓去耦電容都被去掉,以使Vripple不受人為衰減(請參見圖1)。然后,測量輸出信號,并使用方程式1計算得到PSRR:
但這種傳統(tǒng)PSRR測量方法使電源噪聲明顯存在于輸出端上,重建濾波器以前和以后均存在。PSRR測量方法并不能給我們?nèi)魏伪硎?。PSRR測量方法失效的原因是測量期間輸入AC接地。在現(xiàn)實情況中,放大器將播放音樂,這就是事情開始變得有趣的地方。
播放音頻時,電源噪聲同進入的音頻信號混頻/調制,同時其隨之產(chǎn)生的失真不同程度地傳遍音頻頻帶。BTL結構固有的抵消效果不能再消除噪聲。業(yè)界給這種現(xiàn)象起了一個十分形象生動的名稱:互調失真(IMD)。IMD是兩種或兩種以上不同信號頻率混頻在一起的結果,其在一般不為任何一個諧波頻率(整數(shù)倍數(shù))上的頻率形成一些額外信號。
討論如何彌補PSRR測量方法的一些不足之前,讓我們首先討論一下反饋功能。如果您是喝著咖啡,一直跟隨本文的討論,那么您就不會為D類放大器本身存在的一些電源噪聲問題感到吃驚了。如果不是反饋功能,其便是一個嚴重的問題。(高端音頻應用中,開環(huán)放大器聽起來不錯,但那是另外一種情況了。它們一般都擁有非常穩(wěn)定、高性能的電源和極高的成本目標。)為了補償電源噪聲敏感度,設計人員會設計一個具有高穩(wěn)定電源的系統(tǒng)(會增加成本),或者使用一個具有反饋功能的D類放大器(也稱作閉環(huán)放大器)。
當今,消費類電子產(chǎn)品市場上大多數(shù)模擬輸入D類放大器均為閉環(huán)。但是,數(shù)字輸入I2S放大器卻是另外一種情況。I2S放大器直接通過一條數(shù)字總線連接音頻處理器或音頻源。通過去除不必要的數(shù)模轉換,不但可降低成本而且還可提高性能。遺憾的是,今天的市場上并沒有很多閉環(huán)I2S放大器,因為構建一個對PWM輸出采樣并將其同輸入I2S數(shù)字音頻流相加的反饋環(huán)路,是一件十分困難的事情。在模擬反饋系統(tǒng)中,您可將模擬輸出同模擬輸入相加,因此實施起來更為容易。但是,隨著I2S市場的發(fā)展,大多數(shù)I2S放大器都應遵循與模擬輸入放大器一樣的發(fā)展道路,并采用反饋架構。
很明顯,對于BTLD類放大器來說,PSRR并不是一種有效的電源抑制性能測量方法。那么,接下來做什么呢?還是回到那個生動形象的聲音術語互調。我們需要測量播放音頻時產(chǎn)生的互調失真及其相應的THD+N變量曲線。在這樣做以前,讓我們轉回到SE架構。在SE架構中,不管它是AB類、D類還是Z類放大器,您都得不到BTL架構的抵消效果,因為揚聲器的一端被連接到放大器,而另一端則接地。因此,在SE架構中,傳統(tǒng)的PSRR測量方法具有較好的電源噪聲抑制指示,而不管是AB類還是D類放大器。
現(xiàn)在,讓我們進到實驗室中獲得一些數(shù)據(jù)。下面是一系列測量法,其中我們在一個開環(huán)和閉環(huán)I2S放大器中分析和對比了電源紋波IMD.將一個1kHz數(shù)字聲調注入到放大器的輸入端,同時將一個100Hz、500mVpp的紋波信號注入到電源。通過使用一個帶音頻精確度內(nèi)建FFT函數(shù)的差分輸出FFT來觀察IMD.
實驗結果顯示一個閉環(huán)I2S放大器的IMD測量時,1kHz輸入信號時幾乎不存在邊帶。該反饋環(huán)路正出色地抑制互調失真。
另一個實驗顯示了相同的IMD測量方法,但這次針對的是一個I2S開環(huán)放大器。900Hz和1.1kHz邊帶均非常明顯,因為沒有反饋抑制IMD.
但是就音頻質量而言,IMD并非是一種能夠給您諸多定性方法的簡單的測量方法。一種選擇是進行相同的實驗,但現(xiàn)在卻是對THD+N變量曲線進行測量,這也正是我們要在后面兩個測量方法中做的。利用一個1kHz數(shù)字音頻信號和500mVpp電源紋波對THD+N進行測量。電源紋波頻率在50Hz到1kHz范圍內(nèi)變化。
圖2中,觀察不同電源紋波頻率下開環(huán)部分的THD+N掃描。紅線表示電源沒有紋波的放大器性能,其代表理想狀況。其它曲線代表50Hz到1kHz之間變化的紋波頻率。請注意,紋波頻率增加時,失真影響的頻率帶寬也同時增加。請注意,開環(huán)性能在穩(wěn)定電源環(huán)境中較好,但是這會增加成本,并且會在當今這個消費類電子產(chǎn)品激烈競爭的世界中處于不利地位。
觀察圖3所示的相同THD+N掃描,但現(xiàn)在針對的是閉環(huán)放大器。反饋功能將抑制互調失真,因此您沒有看到任何紋波噪聲對音頻性能的影響。
結論
本文中,我們回顧了測量PSRR的傳統(tǒng)方法,并說明其無法在BTLD類放大器中測量電源紋波影響的原因。BTL輸出結構的固有抵消效果,加上測量期間缺少音頻信號,從而產(chǎn)生一個虛假讀數(shù)。這是該規(guī)范的嚴重缺點,因為電源噪聲抑制性能在選擇一個D類放大器時是極其重要的,特別是在觀察數(shù)字輸入(I2S)閉環(huán)和開環(huán)放大器之間的性能差異時。要想獲得更為精確的電源噪聲抑制圖像,您需要在輸入端注入一個1kHz音頻信號并在電源上注入噪聲來研究IMD和THD+N性能。最后,我們介紹了閉環(huán)D類放大器是如何能夠對電源噪聲進行補償?shù)?,而開環(huán)放大器卻不能做到這一點。在競爭激烈的消費類電子產(chǎn)品市場中,成本最為關鍵,閉環(huán)架構可以降低系統(tǒng)成本是一個非常重要的設計考慮因素。