一款簡(jiǎn)便易用的圖形源測(cè)量單元(SMU)儀器

在科學(xué)技術(shù)飛速發(fā)展的今天，離不開我們科研人員的辛勤付出，制造出如此多的電子產(chǎn)品，然而大家只關(guān)注這些產(chǎn)品的使用，只有研究人員會(huì)關(guān)注內(nèi)部結(jié)構(gòu)，這其中就要數(shù)功率器件了。2016年1月14日，測(cè)試測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商——泰克科技公司日前宣布，推出一款簡(jiǎn)便易用的圖形源測(cè)量單元(SMU)儀器，用以優(yōu)化和分析高功率材料、器件和模塊的特性。

泰克推出專為源測(cè)量單元儀器

Keithley 2461高電流源表SMU儀器為創(chuàng)建精確控制的10 A/100 V、1000 W高電流脈沖提供了許多先進(jìn)的功能，最大限度地降低功率器件熱量效應(yīng)，保持器件的完整性。雙18位高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器可以簡(jiǎn)便地測(cè)量待測(cè)器件特點(diǎn)，并在前面板上直接以圖形方式顯示，立即進(jìn)行分析。在久負(fù)盛名的2450和2460 SMU平臺(tái)基礎(chǔ)上，2461擁有同類最高的DC和脈沖源和阱性能，用戶可以更深入地了解設(shè)計(jì)的特點(diǎn)。

開發(fā)下一代高功率材料和器件的科研人員、科學(xué)家和設(shè)計(jì)工程師必需能夠在各種DC和脈沖功率上進(jìn)行測(cè)量，檢驗(yàn)待測(cè)器件性能，同時(shí)使器件自熱效應(yīng)達(dá)到最小，因?yàn)樽詿峤?jīng)常導(dǎo)致器件或模塊故障。這適用于材料研究、半導(dǎo)體器件、電路保護(hù)裝置、高級(jí)照明技術(shù)、能源貯存和生成器件及消費(fèi)電子中使用的功率管理電子等市場(chǎng)。

“全球綠色能源計(jì)劃和能源效率標(biāo)準(zhǔn)正在推動(dòng)對(duì)更高效的功率半導(dǎo)體器件和系統(tǒng)的需求。”泰克科技公司吉時(shí)利產(chǎn)品線總經(jīng)理Mike Flaherty說，“最新的高功率應(yīng)用是非?？量痰?，要求測(cè)試儀器能夠分析比以前明顯更高的電流、更高的功率、更高的峰值電流、以及更低的泄漏電流。2461滿足了這一需求，提供了前所未有的同類領(lǐng)先的性能和界面友好組合。”

與泰克其他吉時(shí)利圖形SMU一樣，2461提供了簡(jiǎn)單直觀的Touch， Test， Invent用戶體驗(yàn)，最大限度地縮短學(xué)習(xí)周期，加快測(cè)試設(shè)置，更快地獲得所需信息。通過圖形觸摸屏界面，用戶可以像在智能手機(jī)和平板電腦上一樣，使用自然手勢(shì)在前面板上直接與結(jié)果交互，迅速放大和縮小數(shù)據(jù)，同時(shí)進(jìn)行詳細(xì)的分析。內(nèi)置開放源腳本語言使得用戶能夠?yàn)閷ｉT的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)建可以重用、可以量身定制的測(cè)試軟件庫(kù)。

2461的10A/100V、1000W脈沖功率使得工程師可以在更短的時(shí)間內(nèi)對(duì)待測(cè)器件應(yīng)用更多的功率，最大限度地降低待測(cè)器件的自熱效應(yīng)，相比之下，DC電流測(cè)試則可能會(huì)掩蓋待測(cè)器件的真實(shí)特點(diǎn)。如果應(yīng)用電流的時(shí)間太長(zhǎng)，DC測(cè)試還可能會(huì)損壞待測(cè)器件。

由于18位雙1 MS/s模數(shù)轉(zhuǎn)換器，2461可以同時(shí)測(cè)量和查看待測(cè)器件特點(diǎn)、波形以及電流和電壓的瞬態(tài)事件。全新的快速“接觸檢查”功能可以幫助用戶最大限度地降低測(cè)量誤差，減少與接觸疲勞、探頭尖端雜質(zhì)、連接松動(dòng)或斷開和繼電器故障有關(guān)的產(chǎn)品誤判。這些功能讓用戶對(duì)測(cè)試結(jié)果更自信，從而可以更快地做出設(shè)計(jì)和工程決策。2461高電流源表SMU儀器現(xiàn)已可以在全球范圍內(nèi)訂購(gòu)。技術(shù)的不斷發(fā)展，也推動(dòng)了功率器件的不斷更新，這也需要我們年輕的科研人員更加努力，學(xué)好專業(yè)知識(shí)，這樣才能趕得上社會(huì)的發(fā)展。