0 引言眾所周知鎖相環(huán)的環(huán)路帶寬以內(nèi)的相位噪聲主要由晶體振蕩器經(jīng)過倍頻惡化后的相位噪聲與鑒相器引入的相位噪聲共同決定。對于環(huán)路帶寬以外的相位噪聲則主要由VCO的相位噪
在STM32上如果不使用外部晶振,OSC_IN和OSC_OUT的接法如果使用內(nèi)部RC振蕩器而不使用外部晶振,請按照下面方法處理:1)對于100腳或144腳的產(chǎn)品,OSC_IN應(yīng)接地,OSC_OUT應(yīng)懸空。2)對于少于100腳的產(chǎn)品,
圖(a)是一個三與非閘串聯(lián)振蕩電路。電阻R1、R2分別跨接在由與非門1、2組成的與非門1和非門2的輸人及輸出端,起負反饋作用,使電路能很好地工作在線性區(qū)。與非門3起緩沖隔離的作用,并在其輸出振蕩信號。電路中的C用作頻
Silicon Labs日前宣布推出全新的高性能晶體振蕩器(XO)系列產(chǎn)品,提供了業(yè)界最低抖動和最高靈活頻率的解決方案。
石英晶體振蕩器是一種用于穩(wěn)定頻率和選擇頻率的重要電子元件,也簡稱為“晶振”。由于石英晶體振蕩器具有體積小、重量輕、可靠性高、具有很高的頻率穩(wěn)定性和良好的溫度特性,因此被廣泛應(yīng)用于通信、廣播、
串聯(lián)型晶體振蕩器
并聯(lián)型晶體振蕩器
美國加利福尼亞州圣何塞消息―2014年5月6日—高性能線性和電源解決方案、局域網(wǎng)以及時鐘管理和通信解決方案領(lǐng)域的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者麥瑞半導(dǎo)體公司(納斯達克股票代碼:MCRL)今
摘要 目前電子系統(tǒng)都要求對晶體振蕩器進行振動狀態(tài)下相位噪聲測試。但對于抗振晶體振蕩器,按照常規(guī)相位噪聲測試方法進行測試時其結(jié)果有可能不正常。文中分析了抗振晶體振蕩器振動狀態(tài)下的相位噪聲及測試方法,通過
摘要 設(shè)計了一種用于時鐘芯片的Pierce晶體振蕩器,通過對傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的改進,增加了振幅控制結(jié)構(gòu)和輸出頻率校準電路,提高了輸出頻率、振幅的穩(wěn)定性和輸出頻率的精度,降低了功耗。同時對電路的工作原理進行了理論分析
矩形波振蕩器
由幾種門電路組成的晶體振蕩器電路e
由幾種門電路組成的晶體振蕩器電路d
由幾種門電路組成的晶體振蕩器電路c
由幾種門電路組成的晶體振蕩器電路b
由幾種門電路組成的晶體振蕩器電路a
由TTL集成電路構(gòu)成的晶體振蕩器b
由TTL集成電路構(gòu)成的晶體振蕩器a
由DTL集成電路構(gòu)成的晶體振蕩器b
由DTL集成電路構(gòu)成的晶體振蕩器a