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M3G測(cè)試方案為高級(jí)內(nèi)存提供低廉的測(cè)試成本
惠瑞捷 (Verigy)推出了全新的 HSM3G 高速存儲(chǔ)器測(cè)試解決方案，進(jìn)一步拓展了面向 DDR3世代主流存儲(chǔ)器 IC 和更高級(jí)存儲(chǔ)器件測(cè)試能力的 V93000 HSM 平臺(tái)。V93000 HSM3G 獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)在于其未來的可升級(jí)性，能夠?yàn)閿?shù)據(jù)傳輸
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創(chuàng)新自動(dòng)功率電子分析與測(cè)試方案亮相電源技術(shù)年會(huì)
泰克公司，近日在2010中國電源學(xué)會(huì)技術(shù)年會(huì)開關(guān)電源分會(huì)場(chǎng)為業(yè)內(nèi)人士帶來一場(chǎng)“創(chuàng)新的自動(dòng)功率電子分析與測(cè)試方案”的主題演講，并展示了相應(yīng)的示波器產(chǎn)品和應(yīng)用模塊。 中國電源學(xué)會(huì)技術(shù)年會(huì)的前身為著名的電源工程
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廣晟選用LTXCX系列實(shí)現(xiàn)TD-SCDMA射頻芯片數(shù)字化測(cè)試方案
近日，廣晟微電子有限公司（RME）??集成電路行業(yè)具領(lǐng)先水平的高頻無線通信射頻收發(fā)芯片供應(yīng)商，攜手LTX-Credence有限公司（NASDAQ：LTXC）??國際知名自動(dòng)測(cè)試方案商，在LTXC的X系列自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)上成功地將新一代TD-S
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基于軟件的靈活LTE測(cè)試環(huán)境技術(shù)
長(zhǎng)期演進(jìn)(LTE)無線網(wǎng)絡(luò)給測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址(OFDMA)技術(shù)，在上行采用單載頻頻分多址(SC-FDMA)技術(shù)，且上下行同時(shí)采用了多輸入多輸出(MIMO)天線配置以最大
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2010安捷倫測(cè)試測(cè)量大會(huì)將在成都舉行
據(jù)悉， 2010年安捷倫測(cè)試測(cè)量大會(huì)將于1月20日在成都香格里拉大酒店拉開帷幕。此次大會(huì)將涉及無線通信與數(shù)字測(cè)試、國防與航空航天科技兩大領(lǐng)域的20多個(gè)專題。在此次會(huì)議中，來賓將親臨現(xiàn)場(chǎng)見證安捷倫科技70年的技術(shù)飛
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Optametra和力科展示224Gb/s PM-QPSK測(cè)試方案
力科公司和連續(xù)光信號(hào)分析儀的主要供應(yīng)商Optametra，在3月23~25日圣迭戈舉辦的OFC/NFOEC 1406展位上展示合作方案。 力科30GHz實(shí)時(shí)示波器WaveMaster 830Zi已經(jīng)用于每信道為56Gb/s 使用PM-QPSK的224Gb/s 測(cè)量。這是加
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安捷倫最新無線測(cè)試方案2010 年美國無線通信展展出
安捷倫科技公司宣布，將在 2010 年美國無線通信展（CTIA）上展示其最新的測(cè)試與測(cè)量解決方案。本屆通信展將于 3 月 23 日到 25 日在美國拉斯維加斯會(huì)展中心舉行，安捷倫在 2427 號(hào)展臺(tái)。安捷倫展示的測(cè)試解決方案覆蓋
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Tektronix自動(dòng)單鍵測(cè)試方案跨越SAS/SATA標(biāo)準(zhǔn)
Tektronix新推出自動(dòng)兼容性和測(cè)試自動(dòng)化解決方案TekExpress，跨越了SATA和SAS(串行連接SCSI)標(biāo)準(zhǔn)，包括由UNH-IOL和SCSI商業(yè)協(xié)會(huì)(STA)所定義廣泛的SAS兼容性測(cè)試，儲(chǔ)存系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員只需按一個(gè)鍵，即能完成這些測(cè)試
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Rohwedder亞太和CIMTEK成立戰(zhàn)略性商業(yè)聯(lián)盟
Rohwedder集團(tuán)位于北京的亞太區(qū)總部（Rohwedder亞太）與蘇州CIMTEK測(cè)試技術(shù)公司簽訂了一份戰(zhàn)略性合作協(xié)議。Rohwedder亞太的實(shí)體即JOT自動(dòng)化技術(shù)（北京）有限公司。 合作雙方希望能在自動(dòng)化和測(cè)試方案領(lǐng)域建
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羅德與施瓦茨北京開放實(shí)驗(yàn)室正式對(duì)外開放
為了更好地服務(wù)用戶，羅德與施瓦茨公司北京開放實(shí)驗(yàn)室于2010年1月正式對(duì)外開放。實(shí)驗(yàn)室面向R&S公司的客戶完全免費(fèi)，提供豐富的提供測(cè)試儀器和強(qiáng)大的技術(shù)支持，真實(shí)的試驗(yàn)環(huán)境客戶可以在此搭建真實(shí)的實(shí)驗(yàn)環(huán)境，以驗(yàn)證
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開放式架構(gòu)SiP測(cè)試方案提高良率
隨著國內(nèi)諸如搭載CMMB等功能多媒體手機(jī)、MP4/5等移動(dòng)手持消費(fèi)類電子產(chǎn)品的快速發(fā)展，加入了無源器件、射頻器件、MEMS、以及多個(gè)子系統(tǒng)高度集成的SiP產(chǎn)品技術(shù)發(fā)展迅猛，對(duì)IC設(shè)計(jì)、封裝、以及測(cè)試都提出了新的要求和挑
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安捷倫CEA展出經(jīng)擴(kuò)充的HDMI測(cè)試方案
安捷倫科技(Agilent Technologies)發(fā)布，旗下經(jīng)擴(kuò)充的高分辨率多媒體接口(HDMI)測(cè)試解決方案組合已于加州Burlingame的CEA 861/HDCP PlugFest13中展出。擴(kuò)充后的解決方案可讓工程師測(cè)試HDMI 1.4版規(guī)格的新功能，例如
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嵌入式測(cè)試方案及高速測(cè)試技術(shù)
前言 目前，在許多應(yīng)用領(lǐng)域，例如處理器、移動(dòng)電話、調(diào)制解調(diào)器等產(chǎn)品，SOC技術(shù)已經(jīng)成為主要的研究方向。這類SOC芯片整合了數(shù)字邏輯電路、模擬電路、內(nèi)存模塊以及知識(shí)產(chǎn)權(quán)（IP）核，甚至將微處理器、外圍接口、通
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QualiPHY-SAS2測(cè)試方案(力科)
力科正式發(fā)布了QualiPHY-SAS2，這是首個(gè)SAS-2的物理層發(fā)送端兼容性測(cè)試應(yīng)用方案，SAS-2是最新的串行連接SCSI標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)軟件的發(fā)布擴(kuò)展了力科自動(dòng)化串行數(shù)據(jù)兼容性測(cè)試方案的組合，為SDA8Zi系列示波器提供了自動(dòng)化控制
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USB3.0的物理層發(fā)送端測(cè)試方案
USB簡(jiǎn)介USB(Universal Serial Bus)即通用串行總線，用于把鍵盤、鼠標(biāo)、打印機(jī)、掃描儀、數(shù)碼相機(jī)、MP3、U盤等外圍設(shè)備連接到計(jì)算機(jī)，它使計(jì)算機(jī)與周邊設(shè)備的接口標(biāo)準(zhǔn)化，從 2000年以后，支持USB2.0版本的計(jì)算機(jī)和設(shè)備
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泰克：讓最新的HDMI兼容性測(cè)試既簡(jiǎn)單又省錢
HDMI 1.4的發(fā)布對(duì)相關(guān)設(shè)備的兼容性測(cè)試帶來新的挑戰(zhàn)，這些挑戰(zhàn)包括新增的嵌入式以太網(wǎng)和音頻測(cè)試、面向汽車應(yīng)用的測(cè)試、以及對(duì)于3D圖形和4Kx2K高分辨率的測(cè)試?！半m然兼容性測(cè)試規(guī)范CTS1.4還沒有出臺(tái)，但是我們已為最
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太陽能電池和電池板測(cè)試方案
由于新能源最近的紅火，很多企事業(yè)單位都把眼光投到了這塊新興能源上，其中包括核能、風(fēng)能、太陽能等。除了很多廠家積極投資到這部分產(chǎn)品之外，作為評(píng)估檢測(cè)產(chǎn)品的各機(jī)構(gòu)也紛紛開始修訂很多新的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。如何測(cè)試評(píng)
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Mentor芯片測(cè)試方案獲聯(lián)電65/40納米制程認(rèn)證
Mentor Graphics宣布其硅芯片測(cè)試與診斷方案已經(jīng)獲得晶圓代工大廠聯(lián)電(UMC)認(rèn)證，可運(yùn)用于聯(lián)電的65與40納米參考流程。該硅芯片測(cè)試流程的基礎(chǔ)是TestKompress自動(dòng)化測(cè)試向量產(chǎn)生(automated test pattern generation，
