“工欲善其事,必先利其器”??茖W(xué)史上的許多重大突破,往往源于新的觀測手段和測量技術(shù)的進步。在現(xiàn)代電子工業(yè)中,半導(dǎo)體器件作為核心組件,其性能和可靠性直接決定了最終產(chǎn)品的品質(zhì)和功能,對這些器件進行精確全面的測試測量變得尤為重要。近日在行業(yè)重磅展會上,全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體公司ADI在現(xiàn)場帶來了儀器儀表應(yīng)用領(lǐng)域的一系列創(chuàng)新方案,如ADI儀器儀表事業(yè)部高級市場經(jīng)理姜海濤所表示,這些板卡級方案以高精度、小型化以及易于集成的優(yōu)勢,契合客戶痛點,是新時代電子測試測量的標桿樣本。
開關(guān)電源是當(dāng)前電子信息飛速發(fā)展不可或缺的電源方式之一。開關(guān)電源以其功耗小、效率高、節(jié)能效果顯著的優(yōu)勢,廣泛應(yīng)用于各種消費類電子以及各類供電系統(tǒng)當(dāng)中,成為一種主流的電源產(chǎn)品。
本篇文章將從各個知名品牌的角度,深入探討2024上半年測試測量行業(yè)的主要成就和發(fā)展動態(tài)。
泰克4、5和6系列示波器采用全新的12位ADC和兩種新型低噪聲放大器,不僅在理論上提高分辨率,在實用中垂直分辨率性能大大提升。這些顛覆式的產(chǎn)品擁有高清顯示器和快速波形更新速率,并且實現(xiàn)更高的垂直分辨率來查看信號的細節(jié)。
泰克TAP1500L為客戶提供了一款靈活而不損性能的解決方案。
近日, 泰克宣布推出一款基于遠程過程調(diào)用(RPC)的新型解決方案TekHSI,可實現(xiàn)從測試儀器到用戶PC的更快傳輸數(shù)據(jù)。
使用泰克高精度示波器MSO6B和專用的電源紋波探頭TPR系列,儀器底噪低至300uV,為精確測量低電壓、高精度的電源噪聲提供了可能。
4200A-SCS參數(shù)分析儀對直流電流和電壓測量執(zhí)行FFT計算的能力,使許多AC參數(shù)的提取成為可能,包括電流譜密度、熱噪聲和AC阻抗。
本文探討了交流耦合和直流抑制模式一些可能出人意料或未知的特性,以及這些模式最終如何導(dǎo)致錯誤的結(jié)論。
Keithley是先進電子測試儀器的全球領(lǐng)導(dǎo)者,擁有60多年的測量專業(yè)知識。Keithley的產(chǎn)品可以準確地進行電流和電壓的測量,其測試設(shè)備支持的電化學(xué)學(xué)科測試包括電池和儲能、腐蝕科學(xué)、電化學(xué)沉積、有機電子學(xué)、光電化學(xué)、材料研究、傳感器以及半導(dǎo)體材料和器件。
信號之間的時間關(guān)系對數(shù)字設(shè)計的可靠運行至關(guān)重要。對于同步設(shè)計,時鐘信號相對于數(shù)據(jù)信號的時間尤為重要。使用混合信號示波器,可以輕松確定多個邏輯輸入和時鐘信號之間的時間關(guān)系。建立和保持時間觸發(fā)器自動確定時鐘與數(shù)據(jù)時間關(guān)系。
7月8日~10日,泰克科技攜最新測試解決方案精彩亮相2024慕尼黑電子展(electronica China),聚焦新能源汽車、綠色能源、數(shù)據(jù)中心、半導(dǎo)體等前沿技術(shù),旨在為工程師們解決產(chǎn)品開發(fā)中的測試難題,引領(lǐng)電子測試技術(shù)的變革趨勢。
隨著汽車行業(yè)的快速發(fā)展,車載通信技術(shù)也在不斷進步。MIPI A-PHY作為一項新興的連接標準,專為汽車應(yīng)用設(shè)計的高速串行器-解串器(SerDes)物理層接口,正逐漸成為車載通信領(lǐng)域的明星技術(shù)。
泰克科技攜手廣東芯聚能半導(dǎo)體有限公司,致力于推動SiC功率模塊產(chǎn)業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新與市場競爭力,共同加速第三代半導(dǎo)體技術(shù)在新能源汽車領(lǐng)域的應(yīng)用,促進了產(chǎn)業(yè)的綠色升級。
泰克公司的MSO6B系列示波器最高帶寬可達10GHZ,采樣率高達50GS/s,底噪低至51.5uV,是測量信號鏈芯片抖動和眼圖的最佳選擇。
隔離是一種電路設(shè)計技術(shù),允許兩個電路進行通信,可消除在它們之間流動的任何不需要的直流電流和交流干擾電流。隔離常用于保護操作人員和低壓電路免受高電壓影響,或防止通信子系統(tǒng)之間的地電位差,或改善系統(tǒng)的抗噪性能。常見的隔離方式包括光耦,磁隔和容隔。
電機電驅(qū)是新能源汽車的核心部件,其性能和可靠性直接影響汽車的動力和安全。盡管示波器可以以高采樣率去捕獲電壓和電流的波形,但需要進一步計算才能從數(shù)據(jù)中生成關(guān)鍵的功率測量值和其他相關(guān)參數(shù)。今天我們就來聊一聊,如何選配合適的探頭,去進行相關(guān)測試。
Tektronix/Keithley公司提供豐富的測試產(chǎn)品,在神經(jīng)形態(tài)材料(鐵電、自旋、有機、二維材料)和器件的科研中得到廣泛的運用。Tektronix/Keithley提供一站式的解決方案,提供靈活的配置方式,提供一套通用的軟件平臺,并且可以根據(jù)特定的測試需求開發(fā)軟件模塊,真正的做到“交鑰匙”方案。
工程師在設(shè)計階段非常有必要進行預(yù)一致性測試,改善產(chǎn)品設(shè)計,確保后期產(chǎn)品通過電磁兼容認證通過率。
MOSFET、IGBT和BJT等半導(dǎo)體器件的開關(guān)速度受到元件本身的電容的影響。為了滿足電路的效率,設(shè)計者需要知道這些參數(shù)。例如,設(shè)計一個高效的開關(guān)電源將要求設(shè)計者知道設(shè)備的電容,因為這將影響開關(guān)速度,從而影響效率。這些信息通常在MOSFET的指標說明書中提供。