傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA(vectornetworkanalyzer)在測量平衡/差分器件時,通常采用所謂的“虛擬”方法:網(wǎng)絡(luò)分析儀用單邊(single-ended)信號激勵被測件,測出其不平衡(unbalanced)參數(shù),然后網(wǎng)絡(luò)分析
無源網(wǎng)絡(luò)如電阻,電感,電容,連接器,電纜,PCB線等在高頻下會呈現(xiàn)射頻、微波方面的特性。S參數(shù)是表征無源網(wǎng)絡(luò)特性的一種模型,在仿真中即用S 參數(shù)來代表無源網(wǎng)絡(luò),因此,S參數(shù)在射頻、微波和信號完整性領(lǐng)域的應(yīng)用都
網(wǎng)絡(luò)分析儀是在四端口微波反射計(見駐波與反射測量)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。在60年代中期實現(xiàn)自動化,利用計算機按一定誤差模型在每一頻率點上修正由定向耦合器的定向性不完善、失配和竄漏等而引起的誤差,從而使測量
一、什么是SPARQ?很多人在問,為什么要將這個產(chǎn)品命名為SPARQ? SPARQ是S-Parameter Quick的簡稱——意為快速測量S參數(shù)。 SPARQ是不同于市場上已有的VNA和TDR的一種新型儀器,是力科在信號完整性測量領(lǐng)域的
隨著半導體工藝的不斷發(fā)展,數(shù)字信號的速率也愈來愈高,Gbps以上的高速信號已經(jīng)隨處可見。面對高速設(shè)計的新領(lǐng)域,硬件設(shè)計工程師們需要改 變傳統(tǒng)的設(shè)計理念,他們需要以更加超前的思維去思考自己將要設(shè)計的信號的質(zhì)量
本文將討論信號完整性網(wǎng)絡(luò)分析儀SPARQ動態(tài)范圍以及考慮一些關(guān)鍵指標的影響,并和競爭對手的兩種時域測試設(shè)備在動態(tài)范圍和關(guān)鍵指標進行了深入比較,提供了推導過程并通過實驗結(jié)果來驗證計算的準確性。動態(tài)范圍任何基于
愛上SPARQ有八大理由:1,40GHz,4端口 2,一鍵操作,內(nèi)置OSLT校準 3,價格只有傳統(tǒng)VNA的一小部分 4,能直接用于仿真的S參數(shù) 5,實時進行時域觀察,仿真和分析 6,支持TDR/TDT模式 7,去嵌入能力 8,小巧輕便,
三, 直接用于仿真的S參數(shù)的特性不是任何S參數(shù)文件都可以直接用于仿真軟件。 SPARQ區(qū)別于VNA的一點是,SPARQ測量出來的S參數(shù)可以直接用于仿真軟件。 我們知道,可直接用于仿真軟件的S參數(shù)需要具備以下特點:1,遵循三大
網(wǎng)絡(luò)分析儀的歷史幾乎都是由HP創(chuàng)造的。 1950年HP制造出了805A,這是一臺運行在VHF(30MHz~300MHz)的同軸橋,第一次同時提供了阻抗幅度和相位角度的直觀讀數(shù)。 HP803AVHF橋 803A利用了Byrne-bridge的
“告訴我, 我為什么要買你的SPARQ,而不是買VNA? ” 如果您這樣問我,對不起,也許我會反問您,您的真實的測試需求是什么? 我想說的是,SPARQ是滿足信號完整性市場的最好的S參數(shù)測試儀。如果您是類似于華為,
史蒂夫是設(shè)計背板的信號完整性工程師。他的工作是設(shè)計背板上承載特定速度信號的印制電路板。具體來說就是分析背板上一塊子板通過連接器到靠近另外一塊子板的連接器的特定通路信號的完整性。他將微波理論的知識應(yīng)用到
現(xiàn)在很多單位從事于低噪聲放大器(LNA)的設(shè)計工作,而且要求LNA有較低的輸入功率,有時輸入功率甚至小于-60dBm。針對這樣的LNA,要想準確地測量它的四個S參數(shù),將變得十分困難。但是合理地設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析
一個任意多端口網(wǎng)絡(luò)的各端口終端均匹配時,由第n個端口輸入的入射行波 an將散射到其余一切端口并出射出去。若第m個端口的出射行波為bm,則n口與m口之間的散射參數(shù)Smn=bm/an。一個雙口網(wǎng)絡(luò)共有四個散射參數(shù) S11、S21、
研發(fā)工程師一般會使用各種仿真分析軟件,所以很多人認為購買4端口高性能網(wǎng)絡(luò)分析儀足夠,不需要多花2萬多美金購買PLTS軟件,因為他們認為仿真分析軟件如ADS已經(jīng)具備PLTS的功能。 在仿真分析方
網(wǎng)絡(luò)分析儀校準的目的是消除測試的系統(tǒng)誤差。校準的思路是通過對標準件的測試得到網(wǎng)絡(luò)分析儀系統(tǒng)誤差項的具體數(shù)值,然后通過計算對被測件測試結(jié)果進行修正處理,消除其中誤差成份,得到被測件真實值。在談進階篇之前,我們先來復(fù)習一下基礎(chǔ)知識。
催更的童鞋們,射頻君終于更新了哈。接著網(wǎng)絡(luò)分析儀基礎(chǔ)篇,射頻君今天和大家聊一聊網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要技術(shù)指標和主要校準方法。
由于被測件的多樣性,使得矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀校準種類繁多,操作者容易出現(xiàn)誤區(qū)。有時候校準出來的結(jié)果看似很“漂亮”,但其實是錯誤值。下面將列舉常見的誤區(qū)。
PNA-X N5242A非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(NVNA)主要采用兩種方法來測量被測件(DUT)的非線性效應(yīng):一種是非線性元器件特性表征法,另一種是提取 X 參數(shù)法。
R&S ZVx-K6選件是一種概念全新的技術(shù),并且獲得了多項專利。該公司已經(jīng)在多種有源器件上進行了實驗驗證,發(fā)現(xiàn)該方法得出的增益壓縮點結(jié)果和“虛擬”方法相比,確實有一定差距。
目前,研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)理以及工程師們正面臨著許多嚴峻的挑戰(zhàn),而且每個團體也有著自身獨特的需求。例如在生產(chǎn)階段,工程師需要縮短測試時間,同時提高吞吐率和產(chǎn)量。此時最重要的就是速度。