據(jù)Reed Electronics網(wǎng)站報道,薄膜測量與缺陷檢測設(shè)備供應(yīng)商Rudolph Technologies, Inc.近期宣布,該公司新一代全表面缺陷探測系統(tǒng)已經(jīng)開始向美國閃存制造商交貨。該系統(tǒng)將用于圓片快速前端檢測,AXi935缺陷檢測系統(tǒng)
提出了基于邊緣檢測的二值化與掃描線相結(jié)合的車牌定位方法。實驗表明該方法能夠快速、準(zhǔn)確地定位車牌,且抗干擾能力強(qiáng),定位準(zhǔn)確率在99%以上,光照和天氣對其定位結(jié)果影響很小。