摘要:就某型導(dǎo)彈發(fā)射裝置中1553B總線通信異常導(dǎo)致的隨動(dòng)測(cè)試故障進(jìn)行了分析,給出了該隨動(dòng)測(cè)試故障形成的原因,同時(shí)給出了這種故障的糾正解決方案及其有效,性驗(yàn)證結(jié)果。
摘要:針對(duì)CMOS集成電路的閂鎖效應(yīng),圍繞實(shí)際應(yīng)用的電路系統(tǒng)中易發(fā)生閂鎖效應(yīng)的幾個(gè)方面進(jìn)行了詳細(xì)說明,提出了采用嚴(yán)格的上電時(shí)序、基于光耦的電路隔離設(shè)計(jì)和熱插拔模塊的接口方法,可以有效地降低發(fā)生閂鎖效應(yīng)的概