基于浮柵技術(shù)的閃存
摘要:通過分析設(shè)計(jì),提出了一種新型結(jié)構(gòu)的疊柵MOSFET,它的柵電容是由兩個(gè)電容混聯(lián)組成,所以它有較小的柵電容和顯著的抑制短溝道效應(yīng)的作用。模擬軟件MEDICI仿真結(jié)果驗(yàn)證了理論分析的預(yù)言,從而表明該結(jié)構(gòu)可用作射
我們知道,門電路有一個(gè)閾值電壓,當(dāng)輸入電壓從低電平上升到閾值電壓或從高電平下降到閾值電壓時(shí)電路的狀態(tài)將發(fā)生變化。施密特觸發(fā)器是一種特殊的門電路,與普通的門電路不同,施密特觸發(fā)器有兩個(gè)閾值電壓,分別稱為
摘要:本文通過案例和實(shí)驗(yàn),概述了四種IGBT及其子器件的失效模式:MOS柵擊穿、IGBT-MOS閾值電壓漂移、IGBT有限次連續(xù)短路脈沖沖擊的積累損傷和靜電保護(hù)用高壓npn管的硅熔融。關(guān)鍵詞:柵擊穿 閾值電壓漂移 積累損傷
摘要:在數(shù)/?;旌霞呻娐吩O(shè)計(jì)中電壓基準(zhǔn)是重要的模塊之一。針對(duì)傳統(tǒng)電路產(chǎn)生的基準(zhǔn)電壓易受電源電壓和溫度影響的缺點(diǎn),提出一種新的設(shè)計(jì)方案,電路中不使用雙極晶體管,利用PMOS和NMOS的閾值電壓產(chǎn)生兩個(gè)獨(dú)立于電
本文提出一種適用于這種結(jié)構(gòu)振蕩器的片內(nèi)溫度補(bǔ)償方案,可以簡(jiǎn)單方便地獲得更好的溫度性能。