集成電路測(cè)試

大容量存儲(chǔ)器集成電路測(cè)試

　　大容量存儲(chǔ)器集成電路的測(cè)試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金項(xiàng)目,是根據(jù)大容量存儲(chǔ)器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的發(fā)展趨勢(shì)而研究開(kāi)發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測(cè)試方法和測(cè)試程序

上海復(fù)旦(01385)：認(rèn)購(gòu)上海華嶺新股 持股攤薄至50.29%

<匯港通訊> 上海復(fù)旦(01385)宣布，包括公司在內(nèi)之46名上海華嶺現(xiàn)有股東、31名上海華嶺之現(xiàn)有董事、監(jiān)事、高級(jí)管理人員及核心員工及4名新增機(jī)構(gòu)投資者，將按每股5元人民幣(下同)，認(rèn)購(gòu)上海華嶺之1100萬(wàn)股新股份，上海

上海華嶺將亮相IC CHINA 2013

第11屆中國(guó)國(guó)際半導(dǎo)體博覽會(huì)暨高峰論壇(IC China 2013)將于2013年11月13-15日在上海新國(guó)際博覽中心隆重開(kāi)幕。屆時(shí)，上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司將攜相關(guān)產(chǎn)品亮相展會(huì)。上海華嶺是第一批國(guó)家鼓勵(lì)的集成電路企業(yè)

R&S力推面向未來(lái)的半導(dǎo)體元件及集成電路測(cè)試解決方案

羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz， R&S)作為全球最大的電子和無(wú)線移動(dòng)通信測(cè)試設(shè)備廠商之一，將于2013年2月28日至3月2日在深圳舉辦的2013年集成電路研討會(huì)暨展覽會(huì)(IIC CHINA 2013)上全面展示面向未來(lái)的各種半導(dǎo)

R&S力推面向未來(lái)的半導(dǎo)體元件及集成電路測(cè)試解決方案

21ic訊 羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz， R&S)于2013年2月28日至3月2日在深圳舉辦的2013年集成電路研討會(huì)暨展覽會(huì)(IIC CHINA 2013)上全面展示面向未來(lái)的各種半導(dǎo)體元件及集成電路的測(cè)試解決方案。 其中包括：全

基于PCI總線集成電路測(cè)試儀接口設(shè)計(jì)

摘要：為實(shí)現(xiàn)集成電路測(cè)試儀的軟硬件通信功能，通過(guò)比較通用的PCI通信接口的實(shí)現(xiàn)方法，為了簡(jiǎn)化邏輯電路設(shè)計(jì)，使其更具通用性，采用了PCI專用接口芯片PCI9030，并使用可編程邏輯器件FPGA完成復(fù)雜的時(shí)序邏輯控制和地址

如何自制CMOS 集成電路測(cè)試儀判斷集成電路？

電子技術(shù)的電控電路常采用 CMOS邏輯控制系統(tǒng)，自行設(shè)計(jì)和安裝了簡(jiǎn)易集成邏輯門(mén)電路測(cè)試儀也不難事。只要掌握了各種邏輯門(mén)電路輸入和輸出的邏輯關(guān)系，通過(guò)該測(cè)試儀即可很快判斷集成電路的好壞。一、測(cè)試儀電路構(gòu)成及原

日本愛(ài)德萬(wàn)公司董事長(zhǎng)訪問(wèn)北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所

2010年8月26日，世界著名集成電路測(cè)試設(shè)備公司日本愛(ài)德萬(wàn)(ADVANTEST)公司董事長(zhǎng)丸山利雄一行三人到北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所訪問(wèn)，所長(zhǎng)張東、總工程師馮建科給予了熱情的接待。 張東所長(zhǎng)向來(lái)訪人員介紹了測(cè)試所目前

加快發(fā)展IC測(cè)試設(shè)備

諸玲珍 前一段在業(yè)內(nèi)傳得沸沸揚(yáng)揚(yáng)的集成電路測(cè)試設(shè)備大廠愛(ài)德萬(wàn)(Advantest)收購(gòu)惠瑞捷(Verigy)一案近日終于塵埃落定。Verigy高層已于本月21日向Advantest表示同意其所提收購(gòu)案的想法，Advantest將以每股15美元的價(jià)格

發(fā)展本土測(cè)試業(yè)是IC產(chǎn)業(yè)必然需求

在集成電路測(cè)試設(shè)備行業(yè)，本土企業(yè)面臨的困難是顯而易見(jiàn)的。首先是行業(yè)背景，任何一個(gè)測(cè)試設(shè)備公司都是離不開(kāi)行業(yè)這個(gè)搖籃，國(guó)際ATE(AutomaticTestEquipment自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備)公司在領(lǐng)先中國(guó)國(guó)內(nèi)幾十年發(fā)展的國(guó)外集成電

IC測(cè)試趨向整合 本土廠商期待作為

“從目前看，國(guó)外IC測(cè)試設(shè)備廠商之間的并購(gòu)，對(duì)國(guó)內(nèi)用戶來(lái)說(shuō)不是好消息，設(shè)備過(guò)分集中在大公司手中，會(huì)使我們采購(gòu)設(shè)備價(jià)格的談判余地更小。”這是中國(guó)電子標(biāo)準(zhǔn)化研究所副總工程師、集成電路測(cè)試驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室

IC測(cè)試趨向整合 本土廠商期待作為

“從目前看，國(guó)外IC測(cè)試設(shè)備廠商之間的并購(gòu)，對(duì)國(guó)內(nèi)用戶來(lái)說(shuō)不是好消息，設(shè)備過(guò)分集中在大公司手中，會(huì)使我們采購(gòu)設(shè)備價(jià)格的談判余地更小?！边@是中國(guó)電子標(biāo)準(zhǔn)化研究所副總工程師、集成電路測(cè)試驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室主任陳大為

IC測(cè)試趨向整合本土廠商期待作為

“從目前看，國(guó)外IC測(cè)試設(shè)備廠商之間的并購(gòu)，對(duì)國(guó)內(nèi)用戶來(lái)說(shuō)不是好消息，設(shè)備過(guò)分集中在大公司手中，會(huì)使我們采購(gòu)設(shè)備價(jià)格的談判余地更小?！边@是中國(guó)電子標(biāo)準(zhǔn)化研究所副總工程師、集成電路測(cè)試驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室主任陳大

Multitest推出差分信號(hào)集成電路測(cè)試座

Multitest公司日前宣布，現(xiàn)已設(shè)計(jì)出適于每種半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用的定制型微分測(cè)試座。為適應(yīng)預(yù)期阻抗，測(cè)試座材料選擇及探針經(jīng)過(guò)悉心優(yōu)化。?差分信號(hào)裝置的測(cè)試座必須盡可能的提供最透明互聯(lián)，以盡量降低測(cè)試系統(tǒng)和被測(cè)器

北京集成電路測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室成立

日前，北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所與中國(guó)科學(xué)院微電子研究所共同成立的“北京集成電路測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”正式啟動(dòng)。北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所所長(zhǎng)張東研究員介紹說(shuō)，新成立的“北京集成電路測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”，將整合

探索科研運(yùn)作新模式 北京IC測(cè)試聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室成立

11月30日，北京集成電路測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室正式啟動(dòng)集成電路(IC)測(cè)試是集成電路產(chǎn)業(yè)的重要一環(huán)。設(shè)計(jì)、制造、封裝、測(cè)試四業(yè)并舉，是國(guó)際集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的主流趨勢(shì)。“北京集成電路測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”

一種數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

介紹了一種數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)的工作原理、組成。提出了系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì)方案。該系統(tǒng)基于自定義總線結(jié)構(gòu)，可測(cè)試電平范圍寬。

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