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JTAG口及其對F1aSh的在線編程
隨著嵌入式技術(shù)的發(fā)展，在一些高端的掌上設(shè)備中，都使用了Flash芯片，如Compaq的iPAQ、聯(lián)想的天祺系列等產(chǎn)品。但對于研發(fā)人員來說，在開發(fā)階段需要大量的程序調(diào)試，就意味著
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JTAG口及其對Flash的在線編程
摘要：通過JTAG實(shí)現(xiàn)對Flash在線編程。首先，介紹JTAG的定義、結(jié)構(gòu)及引腳的定義，并闡述JTAG狀態(tài)機(jī)的工作原理。然后，介紹JTAG口的邊界掃描寄存器，給出實(shí)現(xiàn)JTAG在線寫Flash
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XJTAG與Agilent 推出XJLink2 3070
英國劍橋, 2014年3月18日 – XJTAG，邊界掃描技術(shù)的領(lǐng)先供應(yīng)商，今天發(fā)布了XJLink2 3070。經(jīng)Agilent Technologies認(rèn)可，為Agilent的i3070 ICT機(jī)器提供對XJTAG強(qiáng)大的邊
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MSP430常見問題與解答
由Texas Instruments提供，如果你是一位MSP430初學(xué)者。希望這些能幫到你吧，這是一個不錯的綜合問題。如果認(rèn)為此論壇對你有用，請幫忙宣傳吧...1-問：JTAG 與 I/O 功能之間的 MSP430 引腳復(fù)用答： 四個引腳 P1.7 - P
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MSP430開發(fā)工具介紹 （JTAG SBW BS）
在MCU項(xiàng)目開發(fā)過程中，始終有兩個設(shè)備緊密的聯(lián)系在一起，一個是仿真器，一個是編程器。仿真器，顧名思義就是模仿單片機(jī)的功能;編程器就是把程序編寫到單片機(jī)內(nèi)部。目前公司在MSP430開發(fā)工具方面主要有仿真器、編程器
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JTAG接口無法連接的問題
本文包含兩部分內(nèi)容：1)續(xù)寫TI DSP連接不上的問題;2)順便提一下Xilinx FPGA的JTAG口連接不上的問題。一、TI DSP為啥連接不上?半年前發(fā)過一篇博文《DSP為啥連接不上?TMS320C6416T+seed-XDS510 PLUS》里面闡述了多種DS
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ARM菜鳥：JLINK與JTAG的區(qū)別
調(diào)試ARM，要遵循ARM的調(diào)試接口協(xié)議,JTAG就是其中的一種。當(dāng)仿真時，IAR、KEIL、ADS等都有一個公共的調(diào)試接口,RDI就是其中的一種，那么我們?nèi)绾瓮瓿蒖DI-->ARM調(diào)試協(xié)議(JTAG)的轉(zhuǎn)換呢?有以下兩種做法：1.在電腦上寫一個
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基于JTAG的星型掃描接口的設(shè)計及其仿真
邊界掃描測試技術(shù)飛速發(fā)展，測試與調(diào)試功能不斷增強(qiáng)，硬件IP模塊向集成多個內(nèi)核方向發(fā)展，以往芯片中傳統(tǒng)的測試訪問端口(TAP)中嵌入單一的測試訪問端口控制器(TAPC)逐漸被系統(tǒng)芯片中嵌入多個TAPC所取代。為使單芯片中
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嵌入式系統(tǒng)的除錯策略
嵌入式系統(tǒng)的除錯策略
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嵌入式系統(tǒng)的除錯策略
嵌入式系統(tǒng)的除錯策略
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AVR復(fù)位介紹
AVR復(fù)位時所有的I/O 寄存器都被設(shè)置為初始值，程序從復(fù)位向量處開始執(zhí)行。復(fù)位向量處的 指令必須是絕對跳轉(zhuǎn)JMP 指令，以使程序跳轉(zhuǎn)到復(fù)位處理例程。AVR的復(fù)位信號源有五個：上電復(fù)位。電源電壓低于上電復(fù)位門限 VPOT
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探討基于JTAG技術(shù)的嵌入式系統(tǒng)測試的各個階段
引言 IEEE 1149.1邊界掃描測試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或"dot 1")是一種用來進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
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JTAG仿真接口的電路設(shè)計
JTAG仿真接口的電路設(shè)計
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利用JTAG配置EPCS芯片的方法
Cyclone_III 在使用此方法時，要注意FPGA的MSEL0~3腳，不能接地。EP2C系列可以接地，EP3C系列不可以，要相應(yīng)的配置到AS模式所需的電平。聽同事說可以不用AS接口，而用JTAG接口配置EPCS器件，調(diào)了幾年FPGA了，卻從來沒
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滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測試需求的JTAG技術(shù)
引言：EEE 1149.1邊界掃描測試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或"dot 1")是一種用來進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
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用JTAG邊界掃描測試電路板、BGA和互連
當(dāng)?shù)谝慌娐钒鍢影宸旁谟布こ處熥烂娴臅r候，在測試時他會感到非常困擾。工程師耗費(fèi)幾個星期的時間設(shè)計電路圖和布板，現(xiàn)在電路板做出來了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現(xiàn)在必須確定它能否工作。工程師插上板
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基于JTAG的互連測試技術(shù)
一、引言隨著微電子技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成電路（VLSI）時代，VLSI電路的高度復(fù)雜性及多層印制板、表面貼裝（SMT）、圓片規(guī)模集成（WSI）和多芯片模塊 （MCM）技術(shù)在電路系統(tǒng)中的運(yùn)用，使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問性正逐
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用JTAG邊界掃描測試電路板、BGA和互連
當(dāng)?shù)谝慌娐钒鍢影宸旁谟布こ處熥烂娴臅r候，在測試時他會感到非常困擾。工程師耗費(fèi)幾個星期的時間設(shè)計電路圖和布板，現(xiàn)在電路板做出來了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現(xiàn)在必須確定它能否工作。工程師插上板
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對PLD進(jìn)行邊界掃描（JTAG）故障診斷
IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的邊界掃描技術(shù)是針對復(fù)雜數(shù)字電路而制定的。標(biāo)準(zhǔn)中的自治測試技術(shù)現(xiàn)已成為數(shù)字系統(tǒng)可測性設(shè)計的主流。在利用邊界掃描技術(shù)對芯片印刷電路板進(jìn)行測試時，單芯片與多芯片電路板雖有相同點(diǎn)，但也有不
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利用單片機(jī)實(shí)現(xiàn)CPLD的在系統(tǒng)編程
一、問題的提出嵌入式系統(tǒng)而靈活性的要求。一方面，應(yīng)用環(huán)境會對嵌入式系統(tǒng)不斷提出新的要求，需要更改最初的設(shè)計；另一方面指生產(chǎn)多個品種時希望盡量能在單一的硬件平臺上實(shí)現(xiàn)。為了最大限度地滿足靈活性的需要，嵌
