開關(guān)電源作為電子設(shè)備中不可或缺的組成部分，其穩(wěn)定性和可靠性直接關(guān)系到整個系統(tǒng)的運行效率和使用壽命。在開關(guān)電源的設(shè)計中，鉗位保護電路和散熱器是兩個至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。本文將詳細探討開關(guān)電源鉗位保護電路的設(shè)計原理、實現(xiàn)方法以及散熱器的設(shè)計要點，以期為相關(guān)領(lǐng)域的工程師提供參考。
在LED照明行業(yè)蓬勃發(fā)展的今天，提升LED電源壽命成為了一個關(guān)鍵議題。作為LED燈具中不可或缺的組成部分，電源的穩(wěn)定性與壽命直接影響著整燈的性能和可靠性。在眾多電源元件中，電容器的選擇尤為關(guān)鍵。傳統(tǒng)上，電解電容因其大容量和低成本被廣泛應(yīng)用于LED電源中，但其在高溫、高濕等惡劣環(huán)境下的性能不穩(wěn)定，往往成為限制LED電源壽命的瓶頸。近年來，多層陶瓷電容器(MLCC)因其優(yōu)越的性能逐漸被引入到LED電源設(shè)計中，成為電解電容的有力競爭者。那么，MLCC能否終結(jié)電解電容，進一步提升LED電源的壽命呢?
隨著極低功率傳感器、微控制器和射頻(RF)收發(fā)器技術(shù)的飛速發(fā)展，采用能量收集技術(shù)為無線傳感器網(wǎng)絡(luò)供電或作為補充供電方式已成為現(xiàn)實。這種技術(shù)不僅擺脫了傳統(tǒng)交流電源或電池電源的束縛，還為實現(xiàn)更大的靈活性、更低的維護成本、更高的安全性以及廣泛的普及提供了可能。本文將探討針對能量收集型無線遠程傳感網(wǎng)絡(luò)的電源管理設(shè)計，并詳細分析其中的關(guān)鍵技術(shù)與方法。
在現(xiàn)代電子設(shè)備中，開關(guān)電源模塊作為能量轉(zhuǎn)換的核心部件，其效率的高低直接影響著設(shè)備的整體性能、能耗以及可靠性。因此，提升開關(guān)電源模塊的效率成為了電子工程師們關(guān)注的重點。本文將從理論基礎(chǔ)出發(fā)，結(jié)合實際應(yīng)用，深入探討如何通過設(shè)計優(yōu)化、材料選擇、控制技術(shù)以及散熱管理等多方面措施，來有效提高開關(guān)電源模塊的效率。
在現(xiàn)代城市建設(shè)中，街道及停車場照明作為基礎(chǔ)設(shè)施的重要組成部分，其質(zhì)量和效率直接關(guān)系到城市的公共安全、居民生活質(zhì)量和能源利用效率。隨著科技的進步，高亮度白光發(fā)光二極管(LED)因其獨特的優(yōu)勢逐漸取代傳統(tǒng)光源，成為大功率區(qū)域照明的主流選擇。然而，大功率LED區(qū)域照明在實際應(yīng)用中仍面臨諸多挑戰(zhàn)，而合理的驅(qū)動電源方案則是解決這些問題的關(guān)鍵。
紋波主要在五個方面：輸入低頻紋波、高頻紋波、寄生引起的共模紋波噪聲、功率器件開關(guān)過程中產(chǎn)生的超高頻諧振噪聲和閉環(huán)調(diào)節(jié)控制引起的紋波噪聲。
紋波噪聲是衡量電源的一個重要指標，但有多少人知道紋波和噪聲其實是兩個性能指標，降低紋波和噪聲的方法是有一定區(qū)別的，本文將與大家一起探索如何降低紋波和噪聲。
DC轉(zhuǎn)換器的工作原理：DC-DC轉(zhuǎn)換器是一個反復(fù)打開和關(guān)閉的開關(guān)。它將DC電壓或電流轉(zhuǎn)換成高頻方波電壓或電流，然后整流平滑成DC電壓輸出。
DC轉(zhuǎn)換器的工作原理：DC-DC轉(zhuǎn)換器是一個反復(fù)打開和關(guān)閉的開關(guān)。它將DC電壓或電流轉(zhuǎn)換成高頻方波電壓或電流，然后整流平滑成DC電壓輸出。
缺點是在輸入信號的負半周，A1的負反饋由兩路構(gòu)成，其中一路是R5，另一路是由運放A2復(fù)合構(gòu)成，也有復(fù)合運放的缺點。
在應(yīng)用 常見的問題中，降低負載端的 是大多數(shù)用戶都關(guān)心的。下文結(jié)合紋波噪聲的波形、測試方式，從 及外圍電路的角度出發(fā)，闡述幾種有效降低輸出紋波噪聲的方法。
推挽結(jié)構(gòu)一般是指兩個三極管分別受兩個互補信號的控制，總是在一個三極管導(dǎo)通的時候另一個截止。高低電平由IC的電源決定。
開關(guān)電源作為現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的組成部分，其效率的高低直接影響到設(shè)備的整體性能和能耗水平。隨著技術(shù)的不斷進步和應(yīng)用的日益廣泛，如何提高開關(guān)電源模塊的效率已成為行業(yè)內(nèi)外共同關(guān)注的焦點。本文將從多個方面探討如何更好地提高開關(guān)電源模塊的效率，以期為相關(guān)從業(yè)者和研究者提供有益的參考。
在Linux系統(tǒng)運維和性能調(diào)優(yōu)的過程中，對CPU、內(nèi)存、網(wǎng)絡(luò)及I/O進行壓力測試是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。這些測試能夠幫助系統(tǒng)管理員和開發(fā)人員了解系統(tǒng)在高負載條件下的性能和穩(wěn)定性，從而優(yōu)化系統(tǒng)配置，提高整體性能。本文將從這四個方面介紹Linux系統(tǒng)的性能剖析和壓力測試方法。
在嵌入式系統(tǒng)和移動設(shè)備領(lǐng)域，ARM架構(gòu)以其高效能、低功耗的特點占據(jù)了舉足輕重的地位。在ARM處理器的設(shè)計中，異常處理機制是確保系統(tǒng)穩(wěn)定運行、及時響應(yīng)外部事件和內(nèi)部錯誤的關(guān)鍵組成部分。ARM架構(gòu)定義了七種不同類型的異常源，每種異常源都對應(yīng)著特定的系統(tǒng)狀態(tài)或事件，使得處理器能夠在這些事件發(fā)生時迅速切換至相應(yīng)的異常處理模式。本文將深入探討ARM架構(gòu)支持的七種異常類型及其背后的原理和應(yīng)用。
Verilog12
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王洪陽
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感應(yīng)加熱技術(shù)
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