今天，小編將在這篇文章中為大家?guī)?lái)計(jì)算開(kāi)關(guān)損耗的方法的有關(guān)報(bào)道，通過(guò)閱讀這篇文章，大家可以對(duì)它具備清晰的認(rèn)識(shí)，主要內(nèi)容如下。
老化測(cè)試涉及將組件暴露在高溫和高壓下。這種類(lèi)型的半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試可讓工程師、制造商和其他相關(guān)專(zhuān)業(yè)人員大幅縮短缺陷出現(xiàn)并可能損害可靠性的時(shí)間。老化測(cè)試應(yīng)如何融入整體質(zhì)量控制計(jì)劃?以下是公司官員在實(shí)施此流程時(shí)應(yīng)該了解的內(nèi)容。
羅德與施瓦茨公司通過(guò)創(chuàng)建 R&S RT-ZISO 隔離探測(cè)系統(tǒng)增強(qiáng)了其先進(jìn)的示波器系列。新型 R&S RT-ZISO 可以對(duì)快速切換的信號(hào)進(jìn)行高精度測(cè)量，特別是在共模電壓和電流升高的環(huán)境中。
為了滿(mǎn)足對(duì)碳化硅 (SiC) 晶體日益增長(zhǎng)的需求，世界需要在不犧牲質(zhì)量的情況下大幅提高產(chǎn)量。如今，SiC 晶體對(duì)于制造更小、更快、更高效的芯片和電力電子系統(tǒng)至關(guān)重要。然而，如果沒(méi)有能夠及時(shí)檢測(cè)出微小瑕疵的先進(jìn)計(jì)量工具，SiC 晶體生長(zhǎng)行業(yè)基本上是盲目操作，導(dǎo)致不可接受的缺陷和昂貴的產(chǎn)品損失。
電源轉(zhuǎn)換器可能具有苛刻的負(fù)載行為。在整個(gè)規(guī)格范圍內(nèi)對(duì)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行穩(wěn)定性測(cè)試是任何轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)不可或缺的一部分。本文重點(diǎn)介紹在羅德與施瓦茨R&S?MXO 5 示波器上進(jìn)行的轉(zhuǎn)換器負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)測(cè)量。
模糊測(cè)試，也稱(chēng)為模糊測(cè)試，是一種自動(dòng)化軟件測(cè)試技術(shù)，涉及向計(jì)算機(jī)程序提供無(wú)效、意外或隨機(jī)數(shù)據(jù) (fuzz) 作為輸入。目標(biāo)是查找可以利用的編碼錯(cuò)誤、漏洞、安全漏洞和漏洞。本文首先介紹模糊測(cè)試的一些基本類(lèi)型。然后使用“測(cè)試鎖”的比喻來(lái)解釋這種技術(shù)的具體細(xì)節(jié)。給出了可用工具的列表，并探討了一組最佳實(shí)踐，以便以合乎道德、有效和安全地進(jìn)行模糊測(cè)試。
貝葉斯定理：條件概率的定義提供了理解事件之間關(guān)系的基礎(chǔ)。貝葉斯定理建立在此基礎(chǔ)上，允許我們整合更多信息，以動(dòng)態(tài)方式完善我們的理解。它允許我們根據(jù)新證據(jù)(例如測(cè)試結(jié)果、用戶(hù)報(bào)告)動(dòng)態(tài)更新我們對(duì)事件(例如錯(cuò)誤、崩潰)可能性的信念。這種動(dòng)態(tài)能力可能會(huì)為我們的測(cè)試方法解鎖眾多應(yīng)用。
條件概率：雖然概率可以幫助我們估計(jì)遇到特定事件的可能性并優(yōu)化測(cè)試策略，但條件概率更進(jìn)一步，考慮一個(gè)事件對(duì)另一個(gè)事件概率的影響。這一概念在各種軟件測(cè)試場(chǎng)景中提供了寶貴的見(jiàn)解。
您是否曾想過(guò)用沙子建造一座城堡，卻被意想不到的軟件錯(cuò)誤浪潮沖走?在日常的軟件開(kāi)發(fā)工作中，無(wú)法預(yù)見(jiàn)的問(wèn)題可能會(huì)帶來(lái)災(zāi)難。但如果??我們能夠在這些問(wèn)題發(fā)生之前預(yù)測(cè)它們發(fā)生的可能性，情況會(huì)怎樣?進(jìn)入概率領(lǐng)域，這是我們構(gòu)建強(qiáng)大而可靠軟件的秘密武器。
本文提供了一種創(chuàng)建和更新回歸測(cè)試套件的結(jié)構(gòu)化方法?；貧w測(cè)試套件中應(yīng)該包含哪些類(lèi)型的測(cè)試?應(yīng)該運(yùn)行哪些回歸測(cè)試，如何應(yīng)對(duì)失敗的回歸測(cè)試，回歸測(cè)試套件如何發(fā)展?這些問(wèn)題和其他考慮因素將逐步探討。我將首先探討回歸測(cè)試的基本動(dòng)態(tài)和考慮因素。然后，我將提供一組有助于通過(guò)回歸測(cè)試實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期軟件穩(wěn)定性的步驟。
排隊(duì)理論是數(shù)學(xué)的一個(gè)分支，它分析系統(tǒng)中等待線(隊(duì)列)的形成和行為方式。在非功能性軟件測(cè)試中，它提供了一種寶貴的工具來(lái)了解系統(tǒng)在不同負(fù)載下的性能。通過(guò)分析隊(duì)列長(zhǎng)度、等待時(shí)間和服務(wù)器利用率，排隊(duì)模型可以幫助預(yù)測(cè)潛在的瓶頸和性能問(wèn)題，防止它們?cè)趯?shí)際使用中發(fā)生。
軟件故障的性質(zhì)與硬件故障不同。盡管軟件和硬件都可能遇到確定性故障和隨機(jī)故障，但它們的故障有不同的根本原因、不同的故障模式以及不同的預(yù)測(cè)、預(yù)防和修復(fù)機(jī)制。根據(jù)軟件和硬件之間的相互依賴(lài)程度及其對(duì)我們系統(tǒng)的影響，考慮以下因素可能會(huì)有所幫助：
技術(shù)團(tuán)隊(duì)竭盡全力開(kāi)發(fā)出色的軟件產(chǎn)品。他們花費(fèi)了無(wú)數(shù)個(gè)小時(shí)來(lái)編碼、測(cè)試和完善每一個(gè)小細(xì)節(jié)。然而，即使是最精心設(shè)計(jì)的系統(tǒng)也可能在此過(guò)程中遇到問(wèn)題。這就是可靠性模型和指標(biāo)發(fā)揮作用的地方。它們幫助我們識(shí)別潛在的弱點(diǎn)，預(yù)測(cè)故障，并打造更好的產(chǎn)品。
變異測(cè)試是軟件測(cè)試中的一種創(chuàng)新方法，它涉及故意在程序源代碼中引入小的更改或“變異”。目的是什么?測(cè)試測(cè)試用例的有效性并確保它們可以捕獲最細(xì)微的錯(cuò)誤。在本文中，我們將使用Python作為我們選擇的語(yǔ)言來(lái)探索變異測(cè)試的工作原理。
EFT 的來(lái)源有很多，包括簡(jiǎn)單動(dòng)作(例如在地毯上行走)引起的常見(jiàn)靜電放電 (ESD)、電機(jī)啟動(dòng)或者引發(fā)連鎖反應(yīng)的雷擊。從低壓電池供電的可穿戴設(shè)備到高功率電機(jī)系統(tǒng)，這些瞬變會(huì)對(duì)各類(lèi)產(chǎn)品產(chǎn)生不利影響。
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