測(cè)試測(cè)量
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艾德克斯：三大方向擴(kuò)展電源測(cè)試應(yīng)用市場(chǎng)空間
日前，以“功率電子”產(chǎn)品為核心測(cè)試解決方案及儀器制造商艾德克斯再次亮相深圳CITE展覽會(huì)，此次展會(huì)艾德克斯展出測(cè)試儀器、測(cè)試系統(tǒng)、解決方案與應(yīng)用三個(gè)方面的產(chǎn)品，以新能源領(lǐng)域測(cè)試解決方案為主，覆蓋汽車電子、電源、電池等領(lǐng)域，其中IT8300系列、IT6500系列、IT7600系列三款新品吸引了觀眾的注意。
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EDI CON China 2017：行業(yè)領(lǐng)先的盛會(huì)首次來(lái)到上海
電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新大會(huì)（EDI CON China 2017）為當(dāng)今的通信、國(guó)防、消費(fèi)電子、航空航天和醫(yī)療等行業(yè)提供微波、射頻、高速/高頻解決方案、產(chǎn)品和設(shè)計(jì)理念的最新信息。
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是德科技新款 MIPI D-PHYSM 和 C-PHYSM 測(cè)試解決方案 加速移動(dòng)技術(shù)和物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)開發(fā)
是德科技公司近日宣布推出新的 MIPI D-PHY 和 C-PHY 測(cè)試解決方案，幫助加速下一代移動(dòng)和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備的開發(fā)。是德科技新款測(cè)試解決方案支持 MIPI 聯(lián)盟的 D-PHY v2.0/v2.1 規(guī)范和 C-PHY v1.0/v1.1 規(guī)范及一致性測(cè)試套件。。
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《展會(huì)預(yù)告》5月25日福祿克與您相約第49屆全國(guó)高教儀器設(shè)備展示會(huì)
為貫徹落實(shí)《國(guó)家中長(zhǎng)期教育改革和發(fā)展規(guī)劃綱要(2010-2020年)》《教育信息化十年發(fā)展規(guī)劃(2011-2020年)》有關(guān)精神，，促進(jìn)教學(xué)科研儀器設(shè)備更好地服務(wù)于高校教育教學(xué)改革和人才培養(yǎng)，經(jīng)教育部批準(zhǔn)，2017年5月25日至27日在遼寧省沈陽(yáng)市舉辦第49屆全國(guó)高教儀器設(shè)備展示會(huì)(簡(jiǎn)稱“高儀展”)。對(duì)于一向重視高?？蒲蓄I(lǐng)域的福祿克公司將攜眾多產(chǎn)品亮相此次展會(huì)。
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4200A-CVIV多開關(guān)使測(cè)試時(shí)間縮短30倍
把各種測(cè)量集成到器件特性分析中最困難的問題之一，是每種測(cè)量類型基本上都要求不同的線纜。選擇與測(cè)量類型配套的線纜增強(qiáng)了測(cè)量完整性。但是，改變每種測(cè)量類型的電纜耗時(shí)很長(zhǎng)，許多用戶只能接受次優(yōu)結(jié)果。此外，在重新連接電纜時(shí)，用戶會(huì)面臨電纜重連不正確的風(fēng)險(xiǎn)，進(jìn)而導(dǎo)致錯(cuò)誤，需要額外的調(diào)試時(shí)間。更糟糕的是，這些錯(cuò)誤在很長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)都可能注意不到。
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聚焦價(jià)值新增和未來(lái)預(yù)測(cè)，NI聯(lián)手產(chǎn)業(yè)鏈巨頭共同打造工業(yè)物聯(lián)生態(tài)圈
聚焦價(jià)值新增和未來(lái)預(yù)測(cè)，NI聯(lián)手產(chǎn)業(yè)鏈巨頭共同打造工業(yè)物聯(lián)生態(tài)圈
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如何使功率分析儀測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確
高端測(cè)量?jī)x器都是由許多電子元器件組成，儀器在工作過程中，電子元器件產(chǎn)生的熱量匯聚，使儀器內(nèi)部溫度升高，導(dǎo)致儀器精度下降。高端測(cè)量?jī)x器是如何解決溫度對(duì)自身精度的影響呢?
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廣播公司采用泰克儀器實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵視頻行業(yè)轉(zhuǎn)型
泰克在4月22-27日NAB展會(huì)SU5006展位展示混合IP/SDI媒體分析、4K/HDR和ABR監(jiān)測(cè)解決方案
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儀器設(shè)備接地不好的危害
“接地”這個(gè)名詞相信大家都很熟悉，但是在日常測(cè)試和使用中并沒有得到很多人的重視，就連有經(jīng)驗(yàn)的技術(shù)工程師都會(huì)在這里犯錯(cuò)誤，這里跟大家一起來(lái)深究一下。在大部分的測(cè)量測(cè)試系統(tǒng)中，接地的性質(zhì)基本上可
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北京大學(xué)-鼎陽(yáng)科技智能化測(cè)試測(cè)量聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室揭牌儀式圓滿落幕
北京大學(xué)-鼎陽(yáng)科技智能化測(cè)試測(cè)量聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室揭牌儀式在北京大學(xué)圓滿落幕，這標(biāo)志著北京大學(xué)(以下簡(jiǎn)稱北大)和深圳市鼎陽(yáng)科技有限公司(以下簡(jiǎn)稱鼎陽(yáng)科技)的進(jìn)一步深度合作正式開啟!
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是德科技解讀：為什么在5G時(shí)代要轉(zhuǎn)型成為軟件和服務(wù)供應(yīng)商
日前，是德科技在京舉辦新春媒體發(fā)布會(huì)，是德科技通信解決方案事業(yè)部市場(chǎng)營(yíng)銷經(jīng)理Joe Rickert;是德科技通信解決方案事業(yè)部射頻微波產(chǎn)品經(jīng)理劉斌;是德科技中國(guó)區(qū)無(wú)線市場(chǎng)部經(jīng)理白瑛，為媒體解讀了是德科技在通信和IOT領(lǐng)域方面的成就與見解，以及通信測(cè)試行業(yè)的需求解讀。以下是來(lái)自是德科技的全方位詳細(xì)解讀。
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利用AD7616靈活的可編程序列器和突發(fā)模式實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)同步采樣
AD7616是一款16位、具有雙采樣保持通道同步采樣能力，成本和性能經(jīng)過優(yōu)化的2 × 8通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，。雙采保的ADC架構(gòu)使得AD7616可以對(duì)16通道中的兩個(gè)模擬通道進(jìn)行
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泰克榮膺2016年測(cè)試測(cè)量類EDN Hot 100產(chǎn)品多項(xiàng)大獎(jiǎng)
AWG4162任意波形發(fā)生器、P7700 TriMode探頭、RSA500和RSA600 USB頻譜分析儀及TBS2000示波器榮膺大獎(jiǎng).
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羅德與施瓦茨在2017巴塞羅那MWC大會(huì)展示面向5G、LTE-A，物聯(lián)網(wǎng)和IP安全的下一代測(cè)試測(cè)量設(shè)備
秉承“引領(lǐng)測(cè)試技術(shù)潮流”的理念，羅德與施瓦茨公司將在2017 MWC大會(huì)上展示其面向5G等未來(lái)技術(shù)的，最新芯片組、組件、通訊設(shè)備和網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化測(cè)試設(shè)備。該公司作為測(cè)試測(cè)量行業(yè)中的專家，一直在為各種無(wú)線通信的安全和暢通保駕護(hù)航。
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是德科技成功開發(fā)廣泛的測(cè)試與測(cè)量產(chǎn)品，為物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品快速部署保駕護(hù)航，贏得 Frost & Sullivan 的行業(yè)大獎(jiǎng)
是德科技在 Frost & Sullivan 公司最近舉行的一次調(diào)查分析中成績(jī)優(yōu)秀，從而榮膺“Frost & Sullivan 2016 年度全球最佳公司獎(jiǎng)”。此次調(diào)查分析的目的是評(píng)估測(cè)試與測(cè)量行業(yè)為物聯(lián)網(wǎng)(IoT)發(fā)展所做出的貢獻(xiàn)。
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泰克以測(cè)試測(cè)量為橋梁，打造新型材料、器件與集成電路產(chǎn)業(yè)鏈深度互動(dòng)平臺(tái)
泰克科技公司近日在重慶成功舉辦了“新型材料、器件與半導(dǎo)體集成電路測(cè)試測(cè)量技術(shù)研討會(huì)” ，希望促進(jìn)新材料技術(shù)科研與產(chǎn)業(yè)的對(duì)話，促成材料與器件產(chǎn)業(yè)鏈良性互動(dòng)發(fā)展。
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羅德與施瓦茨公司支持中國(guó)移動(dòng)完成世界首個(gè)NB-IOT基站驗(yàn)收測(cè)試
羅德與施瓦茨是第一個(gè)提供NB-IOT基站測(cè)試方案的供應(yīng)商，基于R&S測(cè)試儀表，可以產(chǎn)生與分析NB-IoT信號(hào)。
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2016 NIDays隆重開幕立足當(dāng)下，著眼未來(lái)，共謀下一場(chǎng)科技革命
作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)幫助他們應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)在北京成功舉辦了以——提速革新，“制”領(lǐng)未來(lái)為主題
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2016 NIDays 即將重磅來(lái)襲!
著眼未來(lái) 共謀制造業(yè)科技革命
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IC靜電放電的測(cè)試方法
1 前言靜電放電(ESD，electrostatic discharge)是電子工業(yè)最花代價(jià)的損壞原因之一，它會(huì)影響到生產(chǎn)合格率、制造成本、產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性以及公司的可獲利潤(rùn)。隨著IC產(chǎn)品的制
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