測(cè)試

開關(guān)電源測(cè)試規(guī)范

第一部分：電源指標(biāo)的概念、定義 一．描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個(gè)指標(biāo)形式 1.絕對(duì)穩(wěn)壓系數(shù)： A．絕對(duì)穩(wěn)壓系數(shù)：表示負(fù)載不變時(shí)，穩(wěn)壓電源輸出直流變化量△U0與輸入電

用于測(cè)試SDRAM控制器的PDMA

基于PXI總線與LabVIEW的汽車自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊作為汽車傳動(dòng)力控制的核心部件，其生產(chǎn)質(zhì)量檢測(cè)是保證整個(gè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程完整的重要步驟。為了模擬發(fā)動(dòng)機(jī)特定的實(shí)際工作狀況，需要在同一系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)多輸入輸出信

對(duì)鉛酸蓄電池進(jìn)行原理及失效原因分析

鉛酸蓄電池已發(fā)明有一百多年了，鉛酸蓄電池主要?dú)んw、正負(fù)極板、隔板，電解液在電場(chǎng)作用下將電能轉(zhuǎn)變?yōu)榛瘜W(xué)電能貯存，又將化學(xué)電能轉(zhuǎn)為直流電能，并可反復(fù)進(jìn)行數(shù)次充放電循

分析EMC整改常遇到的問題和一些整改建議

EMC主要是通過測(cè)試產(chǎn)品在電磁方面的干擾大小和抗干擾能力的綜合評(píng)定，是產(chǎn)品在質(zhì)量安全認(rèn)證重要的指標(biāo)之一。很多產(chǎn)品在做產(chǎn)品安全認(rèn)證時(shí)都會(huì)遇到產(chǎn)品測(cè)試不合格的情況，尤其

關(guān)于體聲濾波器的片上測(cè)試與性能表征結(jié)果測(cè)試詳細(xì)剖析

引言射頻(RF)濾波器已成為電子系統(tǒng)小型化、集成化及芯片化的瓶頸之一。薄膜體聲波諧振器(FBAR)是目前在500MHz～20GHz頻段實(shí)現(xiàn)高性能濾波器芯片化的重要途徑。FBAR是一種基于

PIC測(cè)試配置位的使用

//K程序主要是測(cè)試配置位的使用要調(diào)用87X.H杳看//定時(shí)中斷//原來4的程序是可能為沒有按鍵放開的程序//程序5修正按鍵松開的程序//biao是指示是否有按鍵按下如果沒有的話就指示為顯示4個(gè)8#include #inclu

mysql 壓力測(cè)試腳本

#創(chuàng)建表DEPT?CREATE TABLE dept( /*部門表*/deptno MEDIUMINT?? UNSIGNED? NOT NULL? DEFAULT 0,dname VARCHAR(20

淺論嵌入式系統(tǒng)離線測(cè)試

一種典型的差分放大電路設(shè)計(jì)與測(cè)試

2線總線上升時(shí)間加速電路

1 引言 包含2線總線(例如：I2C或SMBus)的應(yīng)用需要在上升時(shí)間、電源損耗、噪聲抑制等參數(shù)之間做出折衷。漏極開路總線從低電平跳變到高電平的上升時(shí)間是由上拉電阻和總線

基于PlCl6LF874單片機(jī)的電容測(cè)試電路設(shè)計(jì)

ATMega8 Watchdog測(cè)試程序

#include #include #include #define uchar unsigned char#define uint unsigned int#define SET_LEDPORTB&=0XFE //PB0接黃色發(fā)光管#define CLR_LED PORTB|=0X01//誤差不會(huì)太大的延時(shí)1ms函數(shù)void Delay

讓汽車電子測(cè)試成本直降90％的測(cè)試系統(tǒng)

"利用NI測(cè)試平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng)，我們不僅成功開發(fā)了HILS，而且還成功開發(fā)了機(jī)器人、圖像處理系統(tǒng)、語音合成系統(tǒng)、噪聲模擬器和GPS模擬器，進(jìn)而搭建了一個(gè)集成的電子組件自動(dòng)化

iPhone6S待機(jī)時(shí)間長(zhǎng)屏幕睡死喚不醒維修過程

故障現(xiàn)象關(guān)屏馬上按喚醒開屏是正常的，關(guān)屏?xí)r間久了就會(huì)睡死喚不醒，送到別的地方修過沒修好維修過程開機(jī)進(jìn)入系統(tǒng)測(cè)試所有的功能，睡死的大部分是功能芯片有問題或電源的中

一個(gè)數(shù)據(jù)庫完全一致恢復(fù)的測(cè)試實(shí)例

一個(gè)oracle數(shù)據(jù)庫的恢復(fù)測(cè)試 1,關(guān)閉數(shù)據(jù)庫完全備份 SQL> shutdown immediate Database closed. Database dismounted. ORACLE in

GD32330C-START開發(fā)板試用體驗(yàn)：軟件配置及程序燒寫調(diào)試

上次測(cè)試的時(shí)候參考GD-LinkAdapterUserManualV1.0.pdf文件中前3節(jié)的燒寫步驟操作,雖然軟件可讀出固件版本及UID,且燒寫提示如圖信息,但是開發(fā)板還是跟新生嬰兒一樣毫無變化.

如何進(jìn)行硬件設(shè)計(jì)與測(cè)試？讓工程師教你！

　　調(diào)試數(shù)字硬件設(shè)計(jì)可能壓力大、耗時(shí)長(zhǎng)，但我們有辦法來緩解壓力。 　　工程設(shè)計(jì)項(xiàng)目中最令人振奮的時(shí)刻之一就是第一次將硬件移到實(shí)驗(yàn)室準(zhǔn)備開始集成測(cè)試的時(shí)候。開發(fā)過程中的這個(gè)階段通常需要很長(zhǎng)時(shí)

嵌入式智能設(shè)備的測(cè)試方法研究

讓汽車電子測(cè)試成本直降90％的測(cè)試系統(tǒng)

"利用NI測(cè)試平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng)，我們不僅成功開發(fā)了HILS，而且還成功開發(fā)了機(jī)器人、圖像處理系統(tǒng)、語音合成系統(tǒng)、噪聲模擬器和GPS模擬器，進(jìn)而搭建了一個(gè)集成的電子組件自動(dòng)化