測試

計(jì)數(shù)測試數(shù)碼管顯示程序

計(jì)數(shù)測試數(shù)碼管顯示程序#include//6.000MHz#defineucharunsignedchar#defineuintunsignedint#defineL0#defineR1ucharSEG7[10]={0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f};/*0~9的數(shù)碼管段碼

提高嵌入式軟件質(zhì)量

如果測試無法證明不存在嚴(yán)重的運(yùn)行錯(cuò)誤，那么嵌入式軟件開發(fā)團(tuán)隊(duì)如何才能確定其軟件沒有這些錯(cuò)誤呢？基于數(shù)學(xué)證明的代碼驗(yàn)證是值得一試的解決方案。在軟件驗(yàn)證方面，可擴(kuò)展的高性能數(shù)學(xué)技術(shù)在實(shí)際應(yīng)用方面的最新發(fā)展十分有用，可實(shí)現(xiàn)對(duì)軟件中不存在運(yùn)行時(shí)錯(cuò)誤進(jìn)行證明。

單片機(jī)進(jìn)行脈寬調(diào)制(PWM) 直流電機(jī)調(diào)速測試程序

單片機(jī)進(jìn)行脈寬調(diào)制(PWM) 直流電機(jī)調(diào)速測試程序;UNL2003提供電機(jī)驅(qū)動(dòng)電流.(

電路板設(shè)計(jì)為什么要設(shè)置這些測試點(diǎn)？

對(duì)學(xué)電子的人來說，在電路板上設(shè)置測試點(diǎn)（test point）是在自然不過的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來說，測試點(diǎn)是什么？ 基本上設(shè)置測試點(diǎn)的目的是為了測試電路板上的零組件有沒有符合規(guī)格以及焊性，比如說想檢查一顆電

PCB可測試性設(shè)計(jì)技術(shù)要概述

隨著技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成（VLSI）時(shí)代，VLSI電路的高度復(fù)雜性及多層印制板、表面封裝（SMT）、圓片規(guī)模集成（WSI）和多模塊（MCM）技術(shù)在電路系統(tǒng)中的運(yùn)用，都使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問性正逐步削弱以至于消失，電路

FPGA和ASIC之間界限正在模糊，F(xiàn)PGA為未來的ASIC提供設(shè)計(jì)架構(gòu)

與以前的自我相比，現(xiàn)在的FPGA不再僅僅是查找表(LUT)和寄存器的集合，而是已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了現(xiàn)在的體系結(jié)構(gòu)的探索，為未來的ASIC提供設(shè)計(jì)架構(gòu)。該系列器件現(xiàn)在包括從基本的可編

經(jīng)典案例分享：弱信號(hào)的測試

　 本次設(shè)計(jì)硬件部分主要由信號(hào)放大、交直流轉(zhuǎn)換、AD轉(zhuǎn)換、量程轉(zhuǎn)換、用于數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)傳輸?shù)膯纹瑱C(jī)、接口芯片、串口以及PC機(jī)等部分構(gòu)成。首先，在PC機(jī)生成一個(gè)用于控制量程轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)顯示的窗口；先

深度了解云計(jì)算數(shù)據(jù)中心內(nèi)部架構(gòu)

對(duì)于云計(jì)算而言，應(yīng)著重從高端服務(wù)器、高密度低成本服務(wù)器、海量存儲(chǔ)設(shè)備和高性能計(jì)算設(shè)備等基礎(chǔ)設(shè)施領(lǐng)域提高云計(jì)算數(shù)據(jù)中心的數(shù)據(jù)處理能力。云計(jì)算要求基礎(chǔ)設(shè)施具有良好的

測試和測量系統(tǒng)選擇須知

　　測試和測量設(shè)備跨越很寬的范圍。對(duì)簡單應(yīng)用來說，比較容易選擇合適的結(jié)構(gòu)來滿足需要和預(yù)算。應(yīng)用的復(fù)雜性增加時(shí)，結(jié)構(gòu)的選擇以及相關(guān)的費(fèi)用也變得復(fù)雜了，就會(huì)做出錯(cuò)誤的選擇，會(huì)更昂貴，正確的選擇

光功率計(jì)自動(dòng)測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

摘 要： 介紹了一套最新研制的光功率計(jì)自動(dòng)測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)充分利用了計(jì)算機(jī)的現(xiàn)有資源，具有投資省、自動(dòng)化程度高等特點(diǎn)。對(duì)于利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣、實(shí)時(shí)通信、自動(dòng)控制等應(yīng)用具有一定的參考價(jià)值。關(guān)鍵詞： 光開

ADI自動(dòng)測試設(shè)備解決方案

Analog Devices provides our customers with a complete portfolio of ATE signal Chain solutions to meet todays demanding SOC, DRAM and Flash Memory tester applications while developing the technologies

SOC芯片中整合RF前端有什么好處？能給生產(chǎn)測試帶來什么？

本文的主旨是啟發(fā)讀者去考慮電子芯片集成度提高對(duì)終測或生產(chǎn)測試的影響。特別的，射頻(RF)芯片測試方法的主要轉(zhuǎn)移變得越來越可行。一些關(guān)于生產(chǎn)測試的關(guān)鍵項(xiàng)目將在這里進(jìn)行

基于FPGA系統(tǒng)易測試性的研究

引 言現(xiàn)代科技對(duì)系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛，因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號(hào)十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設(shè)計(jì)調(diào)試和

電磁繼電器參數(shù)的測試

如何簡單的測試開關(guān)電源

在電路設(shè)計(jì)當(dāng)中，開關(guān)電源掌控著開關(guān)管的開通和關(guān)斷的時(shí)間比率，在電路中發(fā)揮著最基礎(chǔ)但是又不可取代的作用。正因?yàn)榉浅Ｖ匾蚤_關(guān)電源的測試也變得異常重要。本篇文章

電源噪聲的測試

探頭的GND和信號(hào)兩個(gè)探測點(diǎn)的距離過大圖一：示波器DC的量化誤差示波器存在量化誤差，實(shí)時(shí)示波器的ADC為8位，把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為2的8次方（即256個(gè)）量化的級(jí)別，當(dāng)顯示的波形只占屏幕很小一部分時(shí)，則增大

開關(guān)電源測試規(guī)范詳解

第一部分：電源指標(biāo)的概念、定義 一．描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個(gè)指標(biāo)形式 1. 絕對(duì)穩(wěn)壓系數(shù)： A．絕對(duì)穩(wěn)壓系數(shù)：表示負(fù)載不變時(shí)，穩(wěn)壓電源輸出直流變化量△U0 與輸入

開關(guān)電源的42項(xiàng)測試：測試說明，測試方法，判定標(biāo)準(zhǔn)！

白盒測試 1 輔助電源測試 測試說明： 電源中輔助電源有重要意義，電源模塊的正常工作靠輔助電源來保障，輔助電源工作要比主電路要求更可靠，因?yàn)榧词乖谳斎腚妷撼薜臈l

MCS-51單片機(jī)中斷測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

;========================================================;設(shè)計(jì)要求;;1、硬件設(shè)計(jì)要求;使用AT89C51單片機(jī)，時(shí)鐘12MHz，設(shè)計(jì)時(shí)鐘電路和上電復(fù)位電路，;P0口、P1口、P2口分別驅(qū)動(dòng)3個(gè)LED七段數(shù)碼管顯示

開關(guān)電源測試全面解讀

一、極限測試 1.模塊輸出電流極限測試 模塊輸出電流極限測試是測試模塊在輸出限流點(diǎn)放開（PFC的過流保護(hù)也要放開）之后所能輸出的最大電流，測試的目的是為了驗(yàn)證模塊