DFT

DFT概述

離散傅里葉變換(DFT)，是傅里葉變換在時域和頻域上都呈現(xiàn)離散的形式，將時域信號的采樣變換為在離散時間傅里葉變換(DTFT)頻域的采樣。在形式上，變換兩端(時域和頻域上)的序列是有限長的，而實(shí)際上這兩組序列都應(yīng)當(dāng)被認(rèn)為是離散周期信號的主值序列。即使對有限長的離散信號作DFT，也應(yīng)當(dāng)將其看作經(jīng)過周期延拓成為周期信號再作變換。在實(shí)際應(yīng)用中通常采用快速傅里葉變換以高效計算DFT。

LTE上行DFT/IDFT的一種設(shè)計實(shí)現(xiàn)

FFT、PFT和多相位DFT濾波器組瞬態(tài)響應(yīng)的比較

引言 濾波器組頻率響應(yīng)的研究是一個非常復(fù)雜的課題。這方面的大多數(shù)文章只研究穩(wěn)定狀態(tài)下的響應(yīng)，事實(shí)上，雷達(dá)和其它突發(fā)方式的信號具有瞬時的特性。因此，了解濾波器組

DFT、DTFT和DFS你搞清楚了嗎？

大家好，又到了每日學(xué)習(xí)的時間了，今天咱們來聊一聊數(shù)字信號處理中DFT、DTFT和DFS的關(guān)系，咱們通過幾幅圖來對比，探討一下哦。

提高DFT測試覆蓋率的方法

　伴隨著現(xiàn)代大規(guī)模集成電路制造工藝的快速發(fā)展，設(shè)計工程師必需直面芯片制造過程中可能產(chǎn)生的物理缺陷?，F(xiàn)今流行的可測試性設(shè)計(DFT：Design For Testability)應(yīng)運(yùn)而生，并為保證芯片的良品率擔(dān)任著越

借助硬件加速仿真將 DFT 用于芯片設(shè)計

可測試性設(shè)計 (DFT) 在市場上所有的電子設(shè)計自動化 (EDA) 工具中是最不被重視的，縱然在設(shè)計階段提高芯片的可測試性將會大幅縮減高昂的測試成本，也是如此。最近的分析數(shù)據(jù)表明，在制造完成后測試芯片是否存在制造缺陷的成本已增至占制造成本的 40%，這已達(dá)到警戒水平。