靜電放電(ESD, electrostatic discharge )是在電子裝配中電路板與元件損害的一個(gè)熟悉而低估的根源。它影響每一個(gè)制造商,無任其大小。雖然許多人認(rèn)為他們是在ESD安全的環(huán)境
隨著電子產(chǎn)品迅速走向隨身使用化、功能強(qiáng)大化與低功耗化,半導(dǎo)體技術(shù)的持續(xù)微縮就沒有停止的可能性。然而,這樣的演變趨勢(shì)造就了電子產(chǎn)品‘使用可靠性的設(shè)計(jì)工作&rsqu
在人們的日常工作生活中,靜電放電(ESD)現(xiàn)象可謂無處不在,瞬間產(chǎn)生的上升時(shí)間低于納秒(ns)、持續(xù)時(shí)間可達(dá)數(shù)百納秒且高達(dá)數(shù)十安培的電流,會(huì)對(duì)手機(jī)、筆記本電腦等電子系統(tǒng)造
隨著技術(shù)的發(fā)展,移動(dòng)電子設(shè)備已成為我們生活和文化的重要組成部分。平板電腦和只能手機(jī)觸摸技術(shù)的應(yīng)用,讓我們能夠與這些設(shè)備進(jìn)行更多的互動(dòng)。同時(shí),它也構(gòu)成了一個(gè)完整的
USB 3.0傳輸速率高達(dá)5Gbit/s,且電源匯流排也有高達(dá)900毫安培的最大輸出電流,因此電路電氣瞬變和過流故障的預(yù)防極為重要,設(shè)計(jì)人員必須慎選適當(dāng)?shù)臒崦綦娮瑁≒TC)和靜電放
在智能手機(jī)產(chǎn)品設(shè)計(jì)中,需要考慮ESD防護(hù)的主要有以下接口或組件: SIM 卡接口 USB 接口 耳機(jī)接口 MIC Receiver Speaker LCD 充電接口 Micro SD 接口 串口電池接口 按照不同接口的 ESD狀況,劃分防護(hù)等級(jí)。 防護(hù)等級(jí)一
手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、MP3播放器和PDA等手持設(shè)備的設(shè)計(jì)工程師,正不斷地面臨著在降低整個(gè)系統(tǒng)成本的同時(shí)、又要以更小的體積提供更多功能的挑戰(zhàn)。集成電路設(shè)計(jì)工程師通過在減少硅
在能被ESD直接擊中的區(qū)域,每一個(gè)信號(hào)線附近都要布一條地線。I/O電路要盡可能靠近對(duì)應(yīng)的連接器。對(duì)易受ESD影響的電路,應(yīng)該放在靠近電路中心的區(qū)域,這樣其他電路可以為它們提供一定的屏蔽作用。通常在接收端放置串聯(lián)
自適應(yīng)電纜均衡器是串行數(shù)字視頻(SDV)廣播和串行電信設(shè)備接收器前端的基本組成部分,它們還可以用于其它類型的有線通信系統(tǒng)。均衡器直接與傳輸線接口,恢復(fù)由電纜造成信號(hào)
來自人體、環(huán)境甚至電子設(shè)備內(nèi)部的靜電對(duì)于精密的半導(dǎo)體芯片會(huì)造成各種損傷,例如穿透元器件內(nèi)部薄的絕緣層;損毀MOSFET和CMOS元器件的柵極;CMOS器件中的觸發(fā)器鎖死;短路反偏的PN結(jié);短路正向偏置的PN結(jié);熔化有源
來自人體、環(huán)境甚至電子設(shè)備內(nèi)部的靜電對(duì)于精密的半導(dǎo)體芯片會(huì)造成各種損傷,例如穿透元器件內(nèi)部薄的絕緣層;損毀MOSFET和CMOS元器件的柵極;CMOS器件中的觸發(fā)器鎖死;短路反偏的PN結(jié);短路正向偏置的PN結(jié);熔化有源器件內(nèi)
本文介紹了整車部分ESD 抗擾度測(cè)試。 測(cè)試方法: 按照放電方式分類可以分為直接接觸放電和空氣放電。 1、 放電試驗(yàn)點(diǎn)至少應(yīng)包括乘客車廂內(nèi)的成員能觸及的全部電源開關(guān)和控制器件,歡迎
目前幾乎所有的芯片組都有片上ESD保護(hù)。ESD電路放在芯片的外圍和鄰近I/O焊墊處,它用于在晶圓制造和后端裝配流程中保護(hù)芯片組。在這些環(huán)境中,ESD可通過設(shè)備或工廠的生產(chǎn)線
靜電,是大家都非常熟悉的一種自然現(xiàn)象,在我國(guó)的北方,人們?cè)诿撏馓谆蛎碌臅r(shí)候,經(jīng)常會(huì)聽到一些噼里啪啦的聲音,有時(shí)帶著火花,其實(shí),這就是人體身上所攜帶的靜電。靜電會(huì)給人們的生活帶來種種不便