ZLG致遠(yuǎn)電子PA323H高精度功率計正式發(fā)布!配備全新小電流量程功率板卡,可在小電流直接測試或大電流傳感器測試的場景中提供卓越的功率測量精度。高精度小電流測試PA323H配備1000V/5A功率板卡,具備0.1%高精度與300KHz高帶寬,最小可測試0.5mA電流,在需要對高頻...
電流表可以用于電流的測試,但是得到的電流值是一個連續(xù)時間內(nèi)的平均值,若是需要測量的目標(biāo)是一個突變性的電流,則應(yīng)該用到示波器。將小電阻串聯(lián)在該模塊輸入電源的入口,比如1歐姆的電阻,然后用示
具有較寬共模輸入范圍的電流檢測放大器。MAX44284($0.9792)電流檢測放大器集高精度、寬輸入共模范圍于一體。您可以同時獲得高精度、低功耗性能——具備Maxim一貫的簡約設(shè)計風(fēng)格。這款器
低壓小電流穩(wěn)壓電源
可以獲得uA電流的小電流電路
這個電壓調(diào)節(jié)器/電流限制器組合由如圖所示的兩個7805調(diào)節(jié)器組成。R1,R2和R3應(yīng)在最大允許電流限制下為5V下降選擇。S1選擇三個電流值中的一個。別忘了U1需要5mA來操作,這意
現(xiàn)代電源都采用了開關(guān)技術(shù),可從主電源獲得所需的輸出電壓。但是,開關(guān)電源通常有較高的噪聲,不能用于敏感的模擬電路。這些情況下,最佳的選擇還是線性電源?! D1給
I分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測量- 引言許多關(guān)鍵應(yīng)用都需要能夠測量小電流的能力——比如pA級或更小。這些應(yīng)用包括確定FET的柵極漏流、測試敏感的納米電子器件,以及測量絕緣體或電容的漏流。4200-SCS型半導(dǎo)體特性
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如今,愈來愈多的手機、MP4、PDA等數(shù)碼產(chǎn)品帶有拍照功能,隨著百萬像素攝像頭應(yīng)用的普及,用戶對照相及攝像的效果與質(zhì)量要求也逐漸提高。為了在環(huán)境亮度較暗的情況下,仍能獲得較好的拍攝質(zhì)量,部分手機、MP4、PDA產(chǎn)
如今,愈來愈多的手機、MP4、PDA等數(shù)碼產(chǎn)品帶有拍照功能,隨著百萬像素攝像頭應(yīng)用的普及,用戶對照相及攝像的效果與質(zhì)量要求也逐漸提高。為了在環(huán)境亮度較暗的情況下,仍能獲得較好的拍攝質(zhì)量,部分手機、MP4、PDA產(chǎn)
本文探討提供發(fā)光二極體(LED)調(diào)光的方法,分析LED調(diào)光對其長期性能及所發(fā)射出光的色彩穩(wěn)定性之影響,并特別探討如何結(jié)合使用線性恒流穩(wěn)流器(CCR)及數(shù)位電晶體來提供脈沖寬度調(diào)變(PWM)調(diào)光。PWM為改變LED光輸出首要方
本文探討提供發(fā)光二極體(LED)調(diào)光的方法,分析LED調(diào)光對其長期性能及所發(fā)射出光的色彩穩(wěn)定性之影響,并特別探討如何結(jié)合使用線性恒流穩(wěn)流器(CCR)及數(shù)位電晶體來提供脈沖寬度調(diào)變(PWM)調(diào)光。PWM為改變LED光輸出首要方
中性點絕緣系統(tǒng)的接地電容電流,是電力系統(tǒng)的重要參數(shù)之一。通常采用附加電容法和金屬接地法進行測量和計算,但前者測量方法復(fù)雜,并且附加電容對測量結(jié)果的影響較大,而后者試驗中又具有一定的危險性。為此,本文提
摘要:為了減小輸出電流的紋波,在傳統(tǒng)的全橋移相零電壓零電流(ZVZCS)-PWM變換器的基礎(chǔ)上設(shè)計了一種優(yōu)化的變換器。通過在次級引入一個輔助電路,既能使超前臂實現(xiàn)ZVS,滯后臂實現(xiàn)ZCS,又能減小輸出電流紋波。輔助電路
CP2130特別設(shè)計的電流驅(qū)動結(jié)構(gòu)同時可以滿足小電流閃光燈的驅(qū)動需求。其可以保證提供持續(xù)輸出150mA,峰值輸出300mA的驅(qū)動能力,滿足了目前大部分手機、MP4、PDA等產(chǎn)品的小電流閃光燈的驅(qū)動需求。典型應(yīng)用圖見圖4。
CP2130特別設(shè)計的電流驅(qū)動結(jié)構(gòu)同時可以滿足小電流閃光燈的驅(qū)動需求。其可以保證提供持續(xù)輸出150mA,峰值輸出300mA的驅(qū)動能力,滿足了目前大部分手機、MP4、PDA等產(chǎn)品的小電流閃光燈的驅(qū)動需求。典型應(yīng)用圖見圖4。
保護亦可用于減小電纜連接中的漏流。圖12所示為驅(qū)動保護防止電纜的漏泄電阻影響小電流測量的原理.在無保護的配置中,同軸電纜的漏阻與DUT并聯(lián)(RDUT),產(chǎn)生不希望的漏流(IL)。該漏流將影響極小電流的測量。 在保護電
I分析系統(tǒng)優(yōu)化小電流測量- 引言 許多關(guān)鍵應(yīng)用都需要能夠測量小電流的能力——比如pA級或更小。這些應(yīng)用包括確定FET的柵極漏流、測試敏感的納米電子器件,以及測量絕緣體或電容的漏流。 4200-SCS型半導(dǎo)體