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Multitest將在SEMICON China 2011期間舉辦“測(cè)試成本高級(jí)研討會(huì)”
Multitest 宣布其將在SEMICON China 2011期間舉辦“測(cè)試成本高級(jí)研討會(huì)”，會(huì)議定于3月16日在W2展廳的M2會(huì)議室舉辦。2010年SEMICON China展會(huì)將于3月15日至17日在上海新國(guó)際博覽會(huì)中心舉辦。該研討會(huì)將圍繞以下主題展
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Multitest MT9510系統(tǒng)準(zhǔn)確度穩(wěn)定性進(jìn)一步改善
領(lǐng)先的測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商Multitest宣布其MT9510系統(tǒng)進(jìn)一步改善了溫度、準(zhǔn)確度、穩(wěn)定性等方面的性能。Proven Tri-Temp Performance:Multitest’s MT9510 is the Leader in Stability and AccuracyRosenheim, Germany, Fe
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Multitest的MT2168為半導(dǎo)體制造商帶來(lái)真正競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)
Multitest是測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的設(shè)計(jì)和制造商，主要面向世界各地的IDM和測(cè)試分包商。該公司宣布MT2168采用開(kāi)放式非標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試位分布結(jié)構(gòu)，使用戶既可充分利用相關(guān)優(yōu)勢(shì)，又不影響產(chǎn)量或產(chǎn)能。測(cè)試位分布組件
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Multitest為高引腳數(shù)BGA應(yīng)用推出全新LCR(層數(shù)減少)概念
Multitest的電路板事業(yè)部已成功為高引腳數(shù)BGA應(yīng)用推出全新LCR(層數(shù)減少)概念。電路板客戶既可盡享成本節(jié)約，又不會(huì)降低性能。通過(guò)全新的LCR概念，標(biāo)準(zhǔn)間距BGA板的層數(shù)最高可減少40%。在硬聯(lián)接高度和/或測(cè)試座要求方面
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Multitest為節(jié)本高效的測(cè)試接口板推出創(chuàng)新LCR概念
Multitest的電路板事業(yè)部已成功為高引腳數(shù)BGA應(yīng)用推出全新LCR（層數(shù)減少）概念。電路板客戶既可盡享成本節(jié)約，又不會(huì)降低性能。通過(guò)全新的LCR概念，標(biāo)準(zhǔn)間距BGA板的層數(shù)最高可減少40%。在硬聯(lián)接高度和/或測(cè)試座要求方
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Multitest的“測(cè)試接口模擬”幫助測(cè)試接口實(shí)現(xiàn)優(yōu)化和成本效益
Multitest 現(xiàn)推出旨在優(yōu)化測(cè)試接口的“測(cè)試接口模擬”。“信號(hào)完整性模擬”在了解測(cè)試接口性能方面頗具價(jià)值。這是一款重要的多功能工具，可用來(lái)持續(xù)改善設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)、驗(yàn)證現(xiàn)有設(shè)計(jì)和優(yōu)化新設(shè)計(jì)?！靶盘?hào)完整性模擬”使PC
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Multitest推出Plug & Yield解決方案
Multitest公司宣布，其最新推出的Plug & Yield™解決方案能夠幫助用戶以更快速度和最低成本將產(chǎn)品投放市場(chǎng)。這一超高水準(zhǔn)的解決方案實(shí)現(xiàn)了更好的資源利用和更快“收益時(shí)間”。同時(shí)，Plug & Yield&tra
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Multitest通過(guò)ISO 9001/14001年度審計(jì)
Multitest宣布公司連續(xù)10年通過(guò)了ISO 9001質(zhì)量管理和ISO 14001環(huán)境認(rèn)證年度審計(jì)。Committed to Quality, Standards and Ethics: Multitest Renews ISO 9001/14001 CertificationRosenheim, September 2010: Multites
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基于Multitest Mercury探針的晶片級(jí)測(cè)試座受好評(píng) 測(cè)試良品率提高6%
Multitest 宣布全球最大的無(wú)晶圓半導(dǎo)體制造商之一對(duì)基于Mercury的晶片級(jí)測(cè)試座進(jìn)行了評(píng)估，結(jié)果發(fā)現(xiàn)該產(chǎn)品優(yōu)于以往傳統(tǒng)的POGO型彈簧針解決方案。Mercury測(cè)試座有八個(gè)試驗(yàn)位，每個(gè)試驗(yàn)位將近200個(gè)彈簧探針?？蛻魹闈M足
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Multitest放式分選機(jī)MT9510的訂單量破紀(jì)錄
2010年9月Multitest宣布其MT9510年度訂單數(shù)量破紀(jì)錄，市場(chǎng)需求主要來(lái)自于世界各地的汽車(chē)行業(yè)客戶。 汽車(chē)行業(yè)的應(yīng)用要求產(chǎn)品具有最高的可靠性和涵蓋低溫測(cè)試的最佳溫度性能。MT9510滿足了這兩方面的要求，適用于從
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Multitest宣布其三溫水平拿放式分選機(jī)MT9510的訂單量破紀(jì)錄
2010年9月Multitest宣布其MT9510年度訂單數(shù)量破紀(jì)錄，市場(chǎng)需求主要來(lái)自于世界各地的汽車(chē)行業(yè)客戶。汽車(chē)行業(yè)的應(yīng)用要求產(chǎn)品具有最高的可靠性和涵蓋低溫測(cè)試的最佳溫度性能。MT9510滿足了這兩方面的要求，適用于從低至
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Multitest Gemini測(cè)試座被知名半導(dǎo)體IDM選為標(biāo)準(zhǔn)解決方案
Multitest公司宣布，其Gemini?系列測(cè)試插座已被一家知名半導(dǎo)體IDM選為QFN封裝器件的專(zhuān)用測(cè)試插座。經(jīng)過(guò)數(shù)月評(píng)估，Gemini?在多類(lèi)別產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)中脫穎而出。這次成功再次證明使用Gemini?技術(shù)的優(yōu)勢(shì)。這種測(cè)試座性能卓越，
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Multitest攜手Semi臺(tái)灣 支持亞洲MEMS
Multitest公司日前宣布，其中國(guó)臺(tái)灣區(qū)域經(jīng)理AlexChen最近加入Semi臺(tái)灣MEMS委員會(huì)，致力為亞洲MEMS行業(yè)的騰飛發(fā)揮積極作用。 Semi臺(tái)灣MEMS委員會(huì)致力于適應(yīng)臺(tái)灣MEMS行業(yè)的特定需求，在整個(gè)亞洲的影響舉足輕重。
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Multitest推出差分信號(hào)集成電路測(cè)試座
Multitest公司日前宣布，現(xiàn)已設(shè)計(jì)出適于每種半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用的定制型微分測(cè)試座。為適應(yīng)預(yù)期阻抗，測(cè)試座材料選擇及探針經(jīng)過(guò)悉心優(yōu)化。?差分信號(hào)裝置的測(cè)試座必須盡可能的提供最透明互聯(lián)，以盡量降低測(cè)試系統(tǒng)和被測(cè)器
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Multitest為壓力傳感器推出MEMS解決方案
為半導(dǎo)體行業(yè)提供測(cè)試設(shè)備的全球領(lǐng)先制造商Multitest公司日前宣布消息，其MEMS測(cè)試和校準(zhǔn)設(shè)備理念現(xiàn)已延伸到壓力傳感器產(chǎn)品領(lǐng)域，此類(lèi)常見(jiàn)應(yīng)用包括各類(lèi)壓力監(jiān)測(cè)，如高度計(jì)、輪胎壓力控制、差分壓力傳感器及各種醫(yī)療或
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Multitest最新研究表明Mercury測(cè)試座最大限度地減少焊盤(pán)磨損
Multitest公司ECT測(cè)試接口產(chǎn)品部日前進(jìn)行了一項(xiàng)研究，分析了彈簧探針對(duì)電路板焊盤(pán)的影響。在半導(dǎo)體大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試中，控制測(cè)試系統(tǒng)的成本和保證其可靠性至關(guān)重要。ATE負(fù)載電路板是關(guān)鍵的測(cè)試單元，測(cè)試座絕對(duì)不能損壞
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Multitest在SEMICON China 2010 展示最新技術(shù)
設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、連接器、測(cè)試承載板的Multitest公司，在SEMICON China 2010展會(huì)上展示了MT2168分選機(jī)、測(cè)試座解決方案，同時(shí)介紹其ATE測(cè)試板設(shè)計(jì)服務(wù)。??MT2168測(cè)試分選機(jī)是一個(gè)完美的“全能型”平臺(tái)，它同時(shí)
朱德榮
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